Gebraucht JEOL 100C #126353 zu verkaufen

Das JEOL 100C Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Analysewerkzeug, das für viele Anwendungen von Life Sciences bis Materialtechnik eingesetzt wird. Es nutzt fortschrittliche Elektronenoptik, mehrere Detektoren und ein maßgeschneidertes Softwarepaket, um hochauflösende Bildgebung, Elementaranalyse und chemische Analyse durchzuführen. 100C verfügt über eine hochvakuumkompatible Kammer, neoterische Elektronenkanone und eine motorisierte Stufe, die eine breite Palette von Möglichkeiten in der Forschung bietet. JEOL 100C bietet bis zu 10 nm Auflösung in sekundärelektronischer Bildgebung und bis zu 5 nm Auflösung in einem Backscattered-Electron-Bildgebungsmodus. Seine Elektronenkanone hat einen maximalen Arbeitsabstand von 150 mm und eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 KV. Sie weist zusätzlich einen wählbaren Kammerdruckbereich bis zu 10-3 Pa auf, der einen Niedervakuumbetrieb ermöglicht. Der Hochvakuumbetrieb mit 6 nm Auflösung ist ideal für die hochauflösende Abbildung von Proben mit geringer Oberflächenrauhigkeit. 100C ist mit einer breiten Palette von Detektoren ausgestattet, die sowohl im Bildgebungs- als auch im Analysemodus verwendet werden können. Dazu gehören ein großer MINT-Detektor mit elementarer und chemischer Analyse sowie ein Bildfilter zur Kontrastverbesserung und ein Rückstreudetektor zur Probenanalyse. Darüber hinaus verfügt JEOL 100C auch über einen Sekundärelektronendetektor, einen EDX-Detektor und einen Ladedetektor zur umfassenden Analyse. Die maßgeschneiderte Steuerungssoftware auf 100C bietet ein breites Spektrum an Möglichkeiten. Dazu gehören Navigationssteuerung mit einem einfach zu bedienenden polaren Navigationssystem, Bildfiltersteuerung zur Kontrastverbesserung und Vollstufen-Programmierbarkeit für automatisierte Bildgebung und Analyse. Darüber hinaus unterstützt JEOL 100C auch die Probenvorbereitung, wie die Querschnittsanalyse, und verfügt über eine integrierte Spezialmerkmalsbibliothek für Spezialanwendungen. Abschließend ist 100C ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und erweiterte Analyse einer breiten Palette von Proben bietet. Mit motorisierten Stufen, hochvakuumkompatiblen Kammern und einer Vielzahl von Detektoren ist es ein ideales Werkzeug für viele Anwendungen. Schließlich gewährleistet das integrierte Softwarepaket von JEOL 100C die konsistente und zeitnahe Ausführung von Bildgebungs- und Analyseaufgaben.