Gebraucht JEOL 100CX #293765836 zu verkaufen
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ID: 293765836
Transmission Electron Microscope (TEM)
Scanning Electron Microscope (SEM) non functional.
JEOL 100CX ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit moderner Technologie ausgestattet ist, um hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen bereitzustellen. 100CX verfügt über eine Cs-korrigierte Elektronenkanone, eine Elektronenkanone vom Typ Feldemission, eine Anzeigeeinheit für die obere Ansicht und eine duale Detektorausrüstung mit einem digitalen Bildverarbeitungssystem mit unterer Ansicht. Dieses zuverlässige und hocheffiziente SEM bietet eine schnelle und einfache Möglichkeit, eine Vielzahl von Proben zu analysieren und abzubilden. Die Cs-korrigierte Elektronenkanone innerhalb von JEOL 100CX bietet eine verbesserte Leistung durch Erhöhung der Elektronenstrahlstabilität für eine Reihe von bildgebenden und analytischen Anwendungen. Diese effiziente Elektronenkanone verfügt über einen langen Arbeitsweg und eine hohe Stromdichte. Die Feldemissionselektronenkanone erzeugt auch hochauflösende Bilder von kleinen Proben oder feinen Merkmalen innerhalb einer Probe. Die Draufsicht-Anzeigeeinheit in 100CX ermöglicht eine Echtzeit-Überwachung des Scanbereichs, ohne dass der Benutzer seine Position ändern muss. Neben den Elektronenkanonen vom Typ CS und Feldemission ist JEOL 100CX auch mit einer Doppeldetektoreinheit für erhöhten Bildkontrast und -qualität ausgestattet. Der Primärdetektor ist eine hochauflösende Abbildungsdetektormaschine, die eine winkelförmige Emissionskammer über einen großen Bereich von Einfallswinkeln aufweist. Dieser Detektor erzeugt detaillierte Bilder von feinen Strukturen von Proben. Das digitale Bildgebungswerkzeug bietet eine Anzeige in der unteren Ansicht für eine klare Ansicht der Vollansicht der Probe. Insgesamt ist 100CX Rasterelektronenmikroskop ideal für bildgebende und analytische Anwendungen in einer Vielzahl von Branchen. Aufgrund seiner robusten Elektronenpistolen vom Typ CS-korrigiert und Feld Emission, Dual-Detektor-Asset, Top-View-Display und Bottom-View Digital Imaging-Modell bietet JEOL 100CX verbesserte Genauigkeit und Effizienz im Elektronenmikroskop Markt.
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