Gebraucht JEOL 100CX #9113928 zu verkaufen

JEOL 100CX
ID: 9113928
Scanning electron microscope, SEM.
JEOL 100CX ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für Anwendungen mit hoher Auflösung, großer Schärfentiefe und hoher Kontrastabbildung entwickelt wurde. Es ist eine ideale Wahl für eine breite Palette von Werkstoffforschung und industriellen Anwendungen, einschließlich der Analyse von Metallen, Kunststoffen, Halbleitern und Keramik. 100CX verwendet als Elektronenquelle ein Wolfram (W) -Filament, das ein sehr hochauflösendes Bild liefert, mit dem Benutzer Merkmale im Nanometerbereich untersuchen und analysieren können. Dieses SEM verfügt über ein Hochleistungs-W-Filament, um ein hochauflösendes Bild zu erzeugen, das ideal für Ultra-Low-kV-Bildgebung und hohe Vergrößerung ist. JEOL 100CX hat ein großes Sichtfeld von 25 mm Durchmesser, mit dem Benutzer das ganze Bild deutlich sehen können. Es verfügt über eine fortschrittliche Differentialpumpstufe, die hohe Stabilität, niedrige Vibrationen und saubere Vakuumumgebung liefert. Die variable Druckregelung bietet dem Anwender die Möglichkeit, den Betriebsdruck von mindestens 10-4 mbar auf maximal 10-5 mbar für eine bessere Low-kV-Bildgebung zu verändern. Das Differentialpumpsystem profitiert auch von einem variablen Pumpradius, der es der Probenkammer ermöglicht, eine saubere Vakuumumgebung für eine breite Palette von Probengrößen aufrechtzuerhalten. Eines der vorteilhaftesten Merkmale von 100CX ist, dass es eine Low-kV-Bildgebungstechnik verwendet. Diese Technik bietet mehr Kontrast und Auflösung als herkömmliche Bildgebung, auch bei höheren Vergrößerungen. Auch die von JEOL 100 CX erzeugten hochauflösenden Bilder können Oberflächenmerkmale detaillierter darstellen. JEOL 100CX bietet auch eine Reihe von automatisierten Funktionen wie Probenstufenausrichtung, Hochgeschwindigkeits-Autofokus und automatisierte Sub-Sampling. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, die benötigten Daten ohne manuelle Anpassung effizient zu erhalten, was die Variabilität und den Fehler des Benutzers minimiert. Weitere erweiterte Funktionen sind ein motorisierter Probenwechsler für automatisierte Probenwechsel, ein computergesteuertes System zum Umschalten zwischen Detektoren und ein automatisiertes Analyse-Softwarepaket. Insgesamt ist 100CX ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit Funktionen und Fähigkeiten, die es zu einer ausgezeichneten Wahl für viele Materialwissenschaften und industrielle Anwendungen machen. Mit seiner hochauflösenden Bildgebung, der Low-kV-Bildgebungstechnik und einer Vielzahl automatisierter Funktionen bietet es Anwendern ein leistungsstarkes und zuverlässiges Werkzeug für die Durchführung hochwertiger Bildgebung und Analyse.
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