Gebraucht JEOL 1200EX #9132459 zu verkaufen

JEOL 1200EX ist eines der fortschrittlichsten Rasterelektronenmikroskope (SEMs) der Welt. Entwickelt in Japan von JEOL Corporation, JEOL 1200-EX verfügt über eine ultra-hochauflösende Kaltfeld-Emission Feldpistole (FE-FEG), um eine ausgezeichnete Bildqualität zu bieten. 1200 EX kann eine analytische Tiefe von 0,5 nm mit einer Beschleunigungsspannung von 1kV bereitstellen, während seine maximale Auflösung im ZAE-Modus 0,08 nm erreicht. Damit eignet es sich gut für die Abbildung von Strukturen im Nanometermaßstab. 1200-EX ist auch mit drei Detektoranschlüssen ausgestattet, die eine Vielzahl von bildgebenden Texturen und Kontrasten bereitstellen, einschließlich Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und kombinierten sekundären und rückgestreuten Elektronen. 1200EX verfügt über einen variablen Druckmodus, der es ermöglicht, Proben ohne Beschichtung oder Vakuum zu betrachten. Dies ermöglicht eine schadensarme Bildgebung und Analyse empfindlicher Proben. Darüber hinaus ist JEOL 1200 EX mit einer großflächigen ESaber-Kammer ausgestattet, die eine Betrachtung und Analyse von Proben bis zu einer Größe von 80 x 50 mm ermöglicht. JEOL 1200EX verfügt über erweiterte optische Möglichkeiten wie ein hochauflösendes digitales Mikroskop, das eine gleichzeitige Beobachtung von Merkmalen bei einer Auflösung von bis zu 5 μ m ermöglicht. Es bietet auch bildgebende Modi wie SEM/EBSD und EDX, die eine chemische Analyse von Proben ermöglichen. JEOL 1200-EX ist ein zuverlässiges und benutzerfreundliches Instrument, das fortschrittliche Funktionen wie ein vollautomatisches Ausrichtungssystem bietet, um wiederholbare, qualitativ hochwertige Ergebnisse zu gewährleisten. Sein benutzerfreundliches Bediensystem, einschließlich eines Fernbedienungsgeräts und eines Vollfarben-LCD-Monitors, sorgt für Benutzerfreundlichkeit und störungsfreien Betrieb. Zusammenfassend ist 1200 EX ein äußerst vielseitiges und sensibles SEM mit hochauflösenden Bildgebungsfunktionen. Seine hochauflösenden Bildgebungsmodi, erweiterbaren Mikroskopie-Fähigkeiten und benutzerfreundlichen Funktionen führen dazu, dass es ideal für eine Reihe von Anwendungen geeignet ist, von der Materialfehleranalyse bis zur Nanotechnologie-Forschung.