Gebraucht JEOL 2000FX #78020 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 78020
Transmission electron microscope (TEM), 200kV
Configured as a CTEM
Thin window EDS detected
No analyzer or computer
Can be customized.
JEOL 2000FX ist ein hochauflösendes Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM), das qualitative Bildgebung, Elementaranalyse und nanoskalige Materialcharakterisierung bietet. Es ist sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuum-Modus mit einer Auflösung von 0,5 bis 10 nm betriebsfähig. JEOL 2000-FX verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), um einen sehr stabilen, hochauflösenden Elektronenstrahl zu erzeugen, der einen verbesserten Kontrast und eine verbesserte Auflösung bietet. Die Pistole ist mit einem Gatan Performus™ 12k x 12k CCD Imaging Detektor für kontrastreiche, hochauflösende Bildgebung ausgestattet. Sein Anti-Kontamination-System verwendet eine Kombination aus leichtem Ionenbeschuss und flüssiger Stickstoffkühlung, um die gemeinsamen Mostquellen der Probenkontamination zu reduzieren. 2000FX verfügt auch über einen einfach zu bedienenden Niedervakuum-Modus, der für die Charakterisierung von nanoskaligen Materialien ausgelegt ist. Der Low-Vakuum-Modus bietet die gleichen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten wie der Hochvakuum-Modus, aber mit einem reduzierten Vakuumniveau, mit einer speziellen FESEM-Säule, die speziell für nanoskalige Materialien entwickelt wurde. Dieser Modus ist ideal für das Studium von Nanomaterialien, da nanoskalige Merkmale ihre Form und Größe ohne Verzerrung beibehalten. 2000-FX enthält mehrere optionale Zubehörteile für erweiterte Funktionen. Dazu gehören ein einzelner Tilt-Probenhalter zur Sammlung von EDX-Analysen in gekippten Ansichten für die dreidimensionale Bildgebung, ein Advanced Transmitted Illumination Detector (ATILD) zur Abbildung extrem niedriger Spannungsgraphen mit ausgezeichneter Auflösung und eine interne Magnetfeld-Objektivlinse für die Abbildung. JEOL 2000FX ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Bildgebungswerkzeug, das qualitative Bildgebung, Elementaranalyse und nanoskalige Charakterisierung zu einem erschwinglichen Preis bietet. Mit seiner schnellen Datenerfassungszeit, dem einfach zu betreibenden Niedervakuummodus für Nanomaterialien und dem optionalen Zubehör für erweiterte Funktionen ist JEOL 2000-FX eine ideale Wahl für viele Bildgebungs- und Analyseanwendungen.
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