Gebraucht JEOL 2000FX #9389978 zu verkaufen

JEOL 2000FX ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Hochleistungs-Bildgebung auf submikroskopischer Ebene. JEOL 2000-FX ist ein Mehrzweckmikroskop, das eine hochauflösende Abbildung von Proben im Bereich von 10 nm bis 1 Mikron ermöglicht und somit ideal für die Beurteilung von Mikrostrukturen in einer Vielzahl von Proben geeignet ist. Seine fortschrittliche Elektronenoptik verfügt über eine immersionsförmige Hochleistungsobjektivlinse und eine hoch abgestimmte Elektronenoptik mit extrem geringer Aberration und hoher Auflösung. Darüber hinaus verfügt 2000FX über eine breite Palette von bildgebenden Modi und Techniken, von der rückgestreuten Elektronenbildgebung bis zur Röntgenelementanalyse, wodurch es sowohl die Oberflächen- als auch Unterflächenstrukturen von Proben analysieren kann. 2000-FX verfügt über ein patentiertes Everhart-Thornley Paired-Grid-Stromsammelsystem, das einen zuverlässigen niedrigen Hintergrund, eine hohe Kontrastabbildung und eine hohe räumliche Auflösung bietet. Die Länge des sich ständig entwickelnden Everhart-Thornley-Detektors führt zu einem breiteren Betrachtungswinkel, wodurch die Notwendigkeit einer übermäßigen Bildmontage zur Ansicht großer Sichtfelder reduziert wird. Umgekehrt ermöglicht das sich nicht weiterentwickelnde Layout eine schnellere Datenerfassung und schnellere Bildgebungszeiten. JEOL 2000FX beinhaltet auch eine Probenstadium Neigungskontrolle, die eine genauere Betrachtung von geneigten Probenstrukturen ermöglicht. Dieses Setup, kombiniert mit vollautomatisierten Funktionen wie automatisches Zentrieren, beleuchtetes Kreuzhaar und halbautomatische optische Ausrichtung liefern wiederholbare und genaue Ergebnisse. JEOL 2000-FX verfügt zudem über ein Hochvakuumsystem, das Stabilität in der Arbeitsumgebung bietet und die Auflösung der erzeugten Bilder erhöht. Das Hochvakuum wird innerhalb der Mikroskopkammer erzeugt, wodurch eine separate Vakuumpumpe und -kammer entfällt und Kosten und Stromverbrauch reduziert werden. Darüber hinaus verfügt 2000FX über eine eingebaute 3600C | ° -Elektronenquelle, die einen dauerhaft stabilen Strahl über einen langen Zeitraum ohne manuelle Einstellung erzeugt. Die Kombination aus fortschrittlicher Elektronenoptik, Everhart-Thornley-Detektor, automatisierten Funktionen und Hochvakuum ermöglicht es 2000-FX, scharfe, klare Bilder einer Vielzahl von Probenmaterialien zu erzeugen. Insgesamt bietet JEOL 2000FX Microscope leistungsstarke und präzise bildgebende Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen. Mit seiner fortschrittlichen Elektronenoptik und automatisierten Funktionen kann JEOL 2000-FX sowohl für die Oberflächen- als auch für die Tiefenbildgebung eingesetzt werden. Sein breites Leistungsspektrum ermöglicht eine schnelle und effiziente Analyse von Strukturen auf submikroskopischer Ebene mit zuverlässiger Genauigkeit und Wiederholbarkeit.