Gebraucht JEOL 2010 #9157313 zu verkaufen

JEOL 2010 ist ein leistungsstarkes Elektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialproben konzipiert ist. Es bietet hochauflösende Bildgebung mit einem beschleunigten Elektronenstrahl bis zu 10kV und ermöglicht ultra-niedrige Spannungen für bis zu 50nm Auflösung. Es verfügt über beeindruckende 4 unabhängig voneinander einstellbare Abtaststufen sowie einen Kühltemperaturregler, der bei der Bildgebung und Probenmanipulation eine gewünschte Temperatur beibehält. 2010 verfügt über einen integrierten Scanning Annular Dark Field (ADF) Detektor und eine proprietäre Focus Drift Compensation Ausrüstung für unscharfe Bildgebung und erhöhte Vergrößerung. Das ADF-System liefert auch Informationen über die Probentopographie in verschiedenen Tiefen für eine höhere Genauigkeit bei der Abbildung von spezifischen Merkmalen. Der proprietäre EDS-Detektor (Energy-dispersive Röntgenspektroskopie) kann die elementare Zusammensetzung und Morphologie von Proben genau analysieren. JEOL 2010 verfügt auch über ein spezielles Heiz-/Glühentladungsmodul zum Beschichten von Proben mit einer ultradünnen Goldschicht oder anderen Metallen. Diese Beschichtung kann die Sichtbarkeit der Proben verbessern und eine Bildgebung mit hohem Kontrast bereitstellen. Das Modul ist mit einer integrierten Heizplatte und einem Temperaturmonitor zur perfekten Feinabstimmung der Folienstruktur ausgestattet, um die gewünschten endgültigen Abbildungsergebnisse zu erhalten. Neben seinen beeindruckenden Funktionen bietet 2010 benutzerfreundliche Bedienelemente und intuitive Menüs für einfachere Navigation und schnellen Zugriff auf die Informationen. Es verfügt auch über eine automatisierte Bilderfassungseinheit, die bis zu 10 Beispielbilder für zukünftige Referenzen und Vergleiche speichern kann. Diese Maschine ist mit computergesteuerten Probenladesystemen für verbesserte Genauigkeit und Geschwindigkeit integriert. Insgesamt ist JEOL 2010 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefunktionen, intuitiven Bedienelementen und benutzerfreundlichen Menüs und hervorragender Leistung bei allen SEM-Aufgaben. Das vielseitige Instrument ist ideal für Anwendungen in Forschung und Industrie und kann die Qualität und Genauigkeit der Datenerfassung und -analyse erheblich verbessern.