Gebraucht JEOL 2010F #293757804 zu verkaufen

JEOL 2010F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in Forschung und Industrie für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Fähigkeiten eingesetzt wird. Es bietet hochauflösende, nanometrische Bildgebung und analytische Fähigkeiten für eine Reihe von Materialien bis hin zum atomaren Niveau. JEOL 2010 F verfügt über eine Feldemissionskanone, die es ermöglicht, hochauflösende und niedrige Elektronenstrahlströme zu erzielen. Dies ermöglicht eine bessere Bildgebung mit weniger Hintergrundrauschen, was den Kontrast von Bildern verbessert. Die Feldemissionskanone kann stabile Elektronenstrahlströme zwischen 0,25 und 60 Nanoampere erzeugen. 2010F ist mit speziell entwickelten Detektoren ausgestattet, die hohe Empfindlichkeit und geringe Geräuschpegel zur Folge haben. Die Detektoren ermöglichen es dem Mikroskop, eine breite Palette von Materialien, einschließlich organischer und anorganischer Verbindungen, und Partikeln mit Größen bis zu weniger als 1 nm abzubilden. 2010 F ist in der Lage, Bereiche von bis zu 50nmx 50nm mit Auflösungen von bis zu 1nanometer zu scannen. Zusätzlich kann das Mikroskop eine Fokustiefe von bis zu 33nm erreichen. Diese hochauflösende Bildgebung kann verwendet werden, um atomare Kristallstruktur zu analysieren und es Forschern zu ermöglichen, chemische Zusammensetzung einer Probe zu identifizieren. Das Mikroskop kann auch zur sekundären Elektronenbildgebung und zur sekundären Ionenmassenspektrometrie eingesetzt werden. Dies ermöglicht die Abbildung und Analyse der chemischen Zusammensetzung, Partikelgröße und Orientierung mikroskopischer Partikel. JEOL 2010F verfügt auch über eine Reihe von Nachbearbeitungsmöglichkeiten, die es Forschern ermöglichen, die Qualität ihrer Bilder weiter zu verbessern. Diese Funktionen umfassen Bildverbesserung, Farbmanipulation und Bildnähte. Zusätzlich verfügt JEOL 2010 F über eine benutzerfreundliche Softwareplattform, die den Betrieb und die Wartung des Mikroskops unkompliziert macht. Die Software integriert alle Funktionen des Mikroskops und wird mit einer Reihe von Tutorials ergänzt, so dass Benutzer schnell lernen können, wie das Mikroskop zu bedienen ist. Insgesamt ist 2010F ein effizientes und benutzerfreundliches Rasterelektronenmikroskop, das Forschern und Industrie die Werkzeuge bietet, die sie zur Analyse von Materialien auf atomarer Ebene benötigen. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefähigkeiten eignet sich der Bereich gut für eine Reihe von Anwendungen in der Nanotechnologie-Forschung und der industriellen Produktion.