Gebraucht JEOL 2010F #9283823 zu verkaufen

JEOL 2010F ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das Anwenderfunktionen bietet, die sich ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in vielen Branchen eignen. Das Instrument ist mit einer Reihe von erweiterten Funktionen ausgestattet, so dass sowohl erfahrene als auch Anfänger Proben schnell und einfach für die Beobachtung vorbereiten können. Das Gerät hat eine große Kammergröße, so dass der Benutzer größere Proben beobachten kann - bis zu 12 cm im Durchmesser. Es ist mit einem FEG mit einer hohen Helligkeit ausgestattet, so dass ein guter Fokus, Kontrast und Auflösung. Seine nichtmagnetische schnell schaltende Polepiece-Technologie bietet hohe Leistung, erzeugt klare Bilder und hohe Stereowinkel. Das Gerät umfasst eine umfassende Palette von Detektoren, einschließlich sekundärer und rückgestreuter Elektronendetektoren. Sein 4-Quadranten-Rückstreuelektronendetektor erzeugt hochauflösende Bilder und kann zur Messung kleiner Objekte verwendet werden. Es hat auch einen Sekundärelektronendetektor mit einem großen Raumwinkel, der eine ausgezeichnete Effizienz und Empfindlichkeit bietet. Das System verfügt auch über mehrere analytische Fähigkeiten, so dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet. Sein energiedispersiver Röntgenstrahlendetektor (EDX) liefert den Benutzern Informationen über die Zusammensetzung und Dicke der Proben, wodurch die in der Probe vorhandenen Elemente identifiziert werden können. Sein EBSD (electron backscattered diffraction) Detektor ist ideal für fortgeschrittene Kristallographie, so dass Benutzer atomare Struktur, Orientierung und Dehnung in einzelnen Körnern und dünnen Filmen analysieren können. JEOL 2010 F bietet eine Reihe von automatisierten Funktionen, so dass es extrem benutzerfreundlich. Seine automatischen Funktionen können verwendet werden, um Experimente schnell einzurichten, wodurch Benutzer Zeit und Aufwand sparen. Es hat auch eine Rasterelektronenstrahlung, so dass der Benutzer die Probe mit Präzision bewegen oder scannen. Schließlich bietet die automatisierte Digitalelektronik eine hervorragende Zwischenauflösung. 2010F ist ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Mit seinen ausgefeilten Funktionen und automatisierten Funktionen ist es ein ideales Instrument sowohl für professionelle als auch für Anfänger.