Gebraucht JEOL 2011 #293635455 zu verkaufen
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ID: 293635455
Weinlese: 2001
Transmission Electron Microscope (TEM)
LaB6 Electron source
DP Vacuum system
HR Pole piece
OXFORD INCA 30 mm²
LN2 Detector
GATAN 622 TV Camera
GATAN 646 Double tilt holder and controller
Single tilt holder
Power supply: 80-200 kV
2001 vintage.
JEOL 2011 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit überlegenen Leistungsfähigkeiten und eignet sich gut für Anwendungen in den Bereichen Nanowissenschaften, Life Science und Engineering. Es wird von JEOL, einem weltweit führenden Unternehmen in der Elektronenmikroskopie, hergestellt und wurde 2010 veröffentlicht. 2011 bietet eine Vielzahl von Funktionen und Vorteilen für seine Benutzer. JEOL 2011 bietet Wissenschaftlern und Ingenieuren ein leistungsstarkes Werkzeug zur Charakterisierung und Analyse von Probenoberflächen und -strukturen von der Hochgeschwindigkeits-Hochauflösung bis zur energieselektiven Rückstreuelektronendetektion. 2011 ist mit einer Elektronensäule bestehend aus einer Feldemissionskanone (FEG), einem In-Linsen-Detektor und einer 2,5nm-Abtastspirallinse ausgestattet. Dieses optimierte Elektronenoptiksystem ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung mit einer maximalen Auflösung von 0,9 nm. JEOL 2011 zeigt auch eine Hochleistungsbildaufbereitungseinheit, die dazu fähig ist, bis zu 200 Bilder pro Sekunde zu scannen. Diese verbesserte Bildgebungsgeschwindigkeit ermöglicht es, Hochgeschwindigkeitsphänomene oder schnelle physikalische Prozesse zu erfassen. Neben seiner bildgebenden Maschine bietet 2011 eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten. Der energieselektive Rückstreuelektronendetektor (BSE) ermöglicht es Benutzern, Unterschiede in der Materialzusammensetzung und Topographie auf der Nanoskala zu erkennen und zu messen. JEOL 2011 verfügt auch über Everhart-Thornley (ETD) und Solid Immersion Lens (SIL) Detektoren, so dass Benutzer noch höhere Auflösung Bilder als die mit dem Standard-BSE-Detektor möglich zu produzieren. Schließlich ist 2011 auch mit einer Reihe von eingebauten automatisierten Funktionen und Werkzeugen ausgestattet. Dazu gehören ein automatisiertes Navigationswerkzeug zur effizienten Positionierung des Betrachtungsbereichs des Mikroskops sowie automatisierte Bildverbesserungs- und Analysealgorithmen. Insgesamt ist JEOL 2011 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das Forschern und Ingenieuren eine umfassende Plattform für die hochauflösende Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Strukturen und Oberflächen bietet. Mit seiner ausgeklügelten Elektronenoptik und automatisierten Funktionen bietet das Jahr 2011 den Anwendern die ultimative Plattform für Elektronenmikroskopie.
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