Gebraucht JEOL 330 #9268274 zu verkaufen

JEOL 330 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Hochleistungs-Bildgebung von JEOL-Mikroskopen entwickelt wurde. Es ist ein Top-of-the-Line-Gerät, in der Lage, hochauflösende Bilder mit einem sehr hohen Maß an Präzision und Detail zu produzieren. Sein Hauptmerkmal ist seine vielseitige Palette von bildgebenden Modi, die es dem Benutzer ermöglichen, die Oberfläche einer Probe mit mehreren Auflösungen zu erkunden. Darüber hinaus bietet es eine Reihe von Merkmalen für die Messung von Oberflächentopographie und Mikrostruktur sowie für die Life-Sciences-Bildgebung. 330 ist mit einer hochauflösenden Digitalkamera und dynamischer Scantechnologie ausgestattet. Dies ermöglicht eine detaillierte Abbildung selbst feinster Merkmale auf der Oberfläche einer Probe. Es verfügt über eine große Probe mit 8 "Durchmesser, die eine Vielzahl von Probengrößen aufnehmen kann. Das Mikroskop ist ferner mit einem Sekundärelektronendetektor und einem einziehbaren Rückstreudetektor ausgestattet. Diese Detektoren ermöglichen die Erfassung qualitativer und quantitativer Daten, wodurch sie für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet sind. Das SEM verfügt zudem über ein automatisiertes Fokussiersystem, das eine extrem hochauflösende Bildgebung gewährleistet. Es ermöglicht auch die automatisierte Analyse verschiedener Parameter. Diese Parameter umfassen die Oberflächentopographie und ihre Rauheit, Korngrößenverteilung sowie Partikelformen und -orientierung. Dies macht JEOL 330 gut geeignet für eine Vielzahl von mikrostrukturellen, tribologischen und Fehleranalyse Studien. Neben dem Spektrum der bildgebenden Funktionen bietet 330 auch eine Vielzahl von zusätzlichen Funktionen. Es verfügt über eine Hochgeschwindigkeits-Scan-Fähigkeit, so dass es Bilder mit einer viel höheren Effizienz als andere Systeme zu erzeugen. Es hat auch eine patentierte virtuelle Klippeneinheit, die eine genaue Bildgebung auch auf unebenen Oberflächen gewährleistet. Dadurch eignet es sich gut für die Erkundung der Oberflächen von unebenen und hoch strukturierten Materialien. Insgesamt ist JEOL 330 eines der leistungsfähigsten und leistungsfähigsten Instrumente für die Untersuchung von Oberflächenmerkmalen. Es bietet dank seiner Kombination aus Bildverarbeitungsmodi und Detektoren ein hohes Maß an Präzision, Genauigkeit und Vielseitigkeit. Die automatisierte Fokusmaschine und die Hochgeschwindigkeits-Scanfähigkeit machen sie auch für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet.