Gebraucht JEOL 35 #9044656 zu verkaufen

JEOL 35 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungsgerät, das einen Elektronenstrahl zur Beobachtung der Details von Probenoberflächen verwendet. Die Achse des Elektronenstrahls wird mittels einer elektrostatischen Linse auf die Probe fokussiert, während eine Energieanalysatoreinrichtung die Intensität des Strahls anpasst, um einen optimalen Bildkontrast zu erzielen. Die Probe befindet sich auf einer obersten Ladestufe und kann dreidimensional gesteuert manipuliert werden, um den gewünschten Bereich für die Bildgebung richtig auszurichten. 35 SEM bietet eine Vielzahl von Funktionen und Zubehör, darunter einen Sekundärelektronendetektor, einen Rückstreuelektronendetektor, ein automatisiertes allgemeines Informationssystem und einen EDS® Kippdetektor für 3D-Bildgebung und -analyse. Diese modernste Ausrüstung ermöglicht es Benutzern auch, spezielle Probenvorbereitungstechniken einzusetzen, um verschiedene Materialien richtig zu untersuchen. Zwei dieser Techniken, genannt Cs-korrigierte Bildgebung und Low-Vakuum-SEM sind für die Verarbeitung schlecht leitfähige, zerbrechliche oder nicht leitfähige Proben gewidmet. JEOL 35 SEM hat eine hervorragende Auflösungsfähigkeit mit einer maximalen Auflösung von 1,4 nm. Darüber hinaus ist sein Betrieb bemerkenswert ruhig und schwingungsarm, wodurch die Umgebung um ihn herum für spektroskopische Analysen geeignet ist. Seine Betriebs- und Umgebungsbedingungen sind auch auf einfache Weise an der Bedieneinheit und an den Wartungskomponenten ausgelegt; Dadurch verringern sich die Ausfallzeiten erheblich. 35 SEM ist ein zuverlässiges Hochleistungsinstrument, das eine ausgezeichnete Auflösung bietet und gleichzeitig höchste Sicherheitsstandards gewährleistet. Darüber hinaus ist die SEM mit ihrer anspruchsvollen Bildverarbeitungsmaschine für verschiedene Analyseanforderungen einfach konfigurierbar. JEOL 35 SEM schafft mit seinen hervorragenden Eigenschaften die Grundlage für bahnbrechende Forschung und Innovation.