Gebraucht JEOL 4500 #9253502 zu verkaufen

Ein JEOL 4500 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Materialanalyse und Bildgebung im Mikro- und Nanobereich verwendet wird. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist mit einem energiedispersiven Röntgendetektor (EDS) ausgestattet, der Wellenlängen und chemische Zusammensetzung von Elementen auf der Probenoberfläche messen kann. 4500 ist entworfen, um hochauflösende Bildgebung für eine breite Palette von Materialien zur Verfügung zu stellen. Der SEM wird mit einer eingebauten Doppelbalkentechnologie ausgestattet, aus einem Hochleistungsentdecker des sekundären Elektrons (SE) und einer niedrigeren Energie, höherem Auflösungsmacht-Bildaufbereitungsentdecker bestehend. Diese Kombination eignet sich für verschiedene hochauflösende Bildgebungstechniken, wie Zeilenabtastungen, sekundäre Elektronenbildgebung und rückgestreute Elektronenbildgebung. Das Mikroskop bietet auch schnelle Bildgebungsgeschwindigkeiten und ein semiautomatisches Fokussystem, um die Ermüdung des Bedieners zu reduzieren und die Bedienergenauigkeit zu erhöhen. JEOL 4500 bietet eine maximale Bildauflösung von 2 nm und ist somit ideal für die detaillierte Erfassung von Strukturen, einschließlich dünner Filme, Nanodrähte und integrierter Schaltungen. Das SEM ist zudem mit einem hochempfindlichen EDS-Detektor ausgestattet, der Spurenelemente bis auf Teile pro Milliarde Konzentrationen auf der Probenoberfläche detektieren kann. Im Vergleich zu herkömmlichen SEMs bietet 4500 eine verbesserte Elektronenkanonen-Filamentlebensdauer mit einer typischen Lebensdauer von bis zu 4000 Stunden. Dies verlängert die Wartungszeit und bewahrt die Stabilität des Instruments über lange Einsatzzeiten. Das SEM verfügt zudem über ein patentiertes Feldemitterdesign für höhere Stromdichten, was zu höheren Elektronenausbeuten und reduzierter Strahlunschärfe führt. Der Betrieb der JEOL 4500 ist dank der eingebauten Automatisierungsfunktionen wie Scan-Sequenz-Setup, Freeze-Frame-Erfassung, motorisierter Bühnensteuerung und automatischer Fokussierung einfach. Das Mikroskop ist zudem mit einem hochempfindlichen Digitalcomputer zur Speicherung von Benutzereinstellungen und Bilddaten ausgestattet. Der digitale Rechner dient auch zur Steuerung von Messparametern. Insgesamt ist 4500 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für die Materialanalyse und Bildgebung. Es bietet eine verbesserte Auflösung und Genauigkeit im Vergleich zu herkömmlichen SEMs sowie automatisierte Funktionen und einen langlebigen Elektronenkanonenfaden für längere Einsatzzeiten.