Gebraucht JEOL 5310 #9200586 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9200586
Scanning electron microscope
High vacuum operation:
With diffusion pump & roughing pump
HASKRIS Water chiller included for diffusion vacuum pump
With diameter 10 ft water interconnect hoses
Polaroid film camera
With digital camera system similar to astronomical camera
Basic technical & mechanical parameters:
Magnification: 35x - 200000x
Working distance: 8 mm to 48 mm
Specimen size:
Diameter: 72 mm (Maximum)
Height: 40 mm (Maximum)
Specimen goniometer stage: X, Y, Z, Rotation
Control: Manual
X-Y: 38 mm x 70 mm
Tilt: -10° to ~+70°
Rotation: 360°
Operates on 120 VAC
Console measures:
Length: 62
Depth: 30
Height: 48
OXFORD Energy dispersive X-ray spectroscopy
Includes:
Manuals
Hardware / Cabling
Tran slink
Electron gun filaments
Basic PC's are included with adaptors & cables
Not included: Software
Power: 0.5 kV to 30 kV.
JEOL 5310 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Forschungszwecken verwendet werden kann. Das SEM eignet sich perfekt für die Ein- und Zweistrahl-Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS und EBSD). Neben den hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten und ihrer umfassenden Analyse eignet sich dieses Instrument für die Sondierung unterschiedlichster Materialien. 5310 SEM hat einen Emissionsstrom von 0,05 bis 5 Nanoampere und einen breiten mehrfachen Sekundärelektronendetektionsbereich. Mit starkem Strom Einstellknopf und Port-Erweiterung kann es eine Vielzahl von Funktionen erkennen und quantifizieren. Es verfügt über eine beschleunigte Spannung von 2, 3, 5, 8, 10, 15, 20 und 30 KV. Dieses SEM kann auch für Pixel- und Zeilenabtastbildaufnahmen sowie für verschiedene Bildverarbeitungen und Analysen verwendet werden. Um das SEM stabil arbeiten zu lassen, wurde es mit einem Auto-Tune-System ausgestattet, das schnelle Änderungen erkennen kann. Dadurch bleibt der Benutzer mit der aktuellen und Echtzeit-Bildqualität und dem Bildpfad in Kontakt. Die maximale Auflösung von JEOL 5310 beträgt 0,25 Nanometer mit einem großen Sichtfeld von 3,8 cm x 3,8 cm, während es über ein verbessertes elektronenoptisches System verfügt, das insgesamt sechs verschiedene Objektive unterstützt. 5310 bietet eine große Auswahl an Zubehör, wie Polarisationsfilter, Halbmondfelder und verschiedene Arten von Detektoren, so dass der Benutzer die Maschine entsprechend konfigurieren kann. Zu den analytischen Fähigkeiten von JEOL 5310 gehören EDS und EBSD für qualitative und quantitative Analysen sowie STEM für elementare Mapping und Line Scans. Der Stromzusatz eines speziellen Niederspannungsdetektors ermöglicht die Erfassung sehr hochauflösender Bilder bei kürzeren Beschleunigungsspannungen als bei einem Standard-SEM. Schließlich verfügt 5310 über ein Softwarepaket für konventionelle Bildverarbeitung und Bildanalyse, einschließlich Rasterelektronenmikroskopie, MINT-Bildgebung und Elektronenbeugung. JEOL 5310 ist daher ein perfektes Instrument für die Materialforschung und insbesondere für die Erforschung von Biomineralisierung und nanostrukturierten Materialien.
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