Gebraucht JEOL 5600 #9157311 zu verkaufen

JEOL 5600 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Untersuchung der Oberflächenmorphologie und Mikrostruktur eines Materials aufgrund seiner hohen Auflösungsleistung. Das Mikroskop ist mit einer monochromierten Wolframfadenquelle ausgestattet, die für Proben mit geringer Leitfähigkeit optimiert ist. Die maximale Beschleunigungsspannung beträgt 30 kV und hat einen begrenzten Arbeitsabstand von 4mm. 5600 SEM hat auch eine kleine Spotgröße von 0,8 nm für hochauflösende Bildgebung. Es ist mit einem Everhart-Thornley (ET) -Detektor zur energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX) und einem Sekundärelektronendetektor (SE) zur Bilderfassung ausgestattet. Mit einem Sichtfeld von bis zu 230nm bei einer Auflösung von 4mm/mrad kann dieses Mikroskop zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von anorganischen und organischen Materialien eingesetzt werden. JEOL 5600 wurde entwickelt, um eine quantitative Bildanalyse speziell für Halbleiterbauelemente wie Transistoren, Dioden und C-MOS-Schaltungen bereitzustellen. Das SEM ist auch in der Lage, Elementaranalysen mit einem EDX-Detektor durchzuführen, der eine genaue Abbildung und Quantifizierung der Materialzusammensetzung und des chemischen Zustands der Elemente innerhalb der Probe bis zu Elementen mit atomaren Massenzahlen über 200 hinaus ermöglicht. Darüber hinaus ist 5600 mit einer Reihe von Detektoren für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ausgestattet, mit denen die Dicke dünner Filme gemessen und die Korngröße polykristalliner Materialien gemessen werden kann. Weiterhin sind In-situ-Schmelz- und Glühprozesse mit Hilfe eines Widerstandsheizsystems möglich, das mittels eines Elektronenstrahls Proben bis zu 1000˚C im Vakuum aufheizt. Darüber hinaus setzt JEOL 5600 digitale Bildverarbeitungstechnologien und eine Computersteuerung ein, die eine schnelle Datenverarbeitung und eine hochpräzise Bildrekonstruktion ermöglichen. Es verfügt auch über ein optionales Zubehör wie einen digitalen Signalprozessor (DSP) und einen parallelen Port zur Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung. Insgesamt ist 5600 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, mikrostrukturelle Analysen von organischen und anorganischen Proben durchzuführen. Seine hochauflösende Bildgebung, EDX-Analyse und TEM-Fähigkeiten machen es zu einem vielseitigen und fortschrittlichen SEM und ist für wissenschaftliche und industrielle Forschung äußerst zuverlässig und präzise.