Gebraucht JEOL 6340F #9139647 zu verkaufen

JEOL 6340F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit verbesserten bildgebenden Funktionen und einer umfangreichen Palette von Analysewerkzeugen für den Einsatz in industriellen, wissenschaftlichen und Bildungsanwendungen. Mit einem leistungsstarken EDS-System und integriertem EBSD-Detektor liefert dieses SEM detailreiche Bilder und genaue Analyseergebnisse mit verbesserter Materialcharakterisierung. JEOL 6340 F enthält eine 50kV Feldemissionskanone, die in der Lage ist, Bilder höherer Auflösung und verbesserter Bildgebungsgeschwindigkeit mit größerer Schärfentiefe und Kontrast zu erzielen. Die Probenstufe wird bei niedriger Vibrationsfrequenz bewegungslos gehalten und bietet eine verbesserte Bildgebungsgenauigkeit und die Möglichkeit höherer Vergrößerungsstufen. Die Kammer bietet eine maximale Probengröße von 150mm, mit einer drehbaren Stufe und einer Probenkapazität von ca. 12kg. Die Kammer ist auch mit einer flüssigen stickstoffgekühlten Kammer für die Low-kV-Bildgebung ausgestattet, die eine ausgezeichnete Bildqualität bietet, um die Analyse empfindlicher oder anspruchsvoller Proben zu erleichtern. Zusätzlich zu seinen überlegenen Bildgebungsfunktionen umfasst 6340F eine Reihe von Analysewerkzeugen, die eine genaue Element- und Oberflächenanalyse ermöglichen. Der SE-Bildgebungsmodus ermöglicht eine breite Palette von Signalspektralen, um vollständige Informationen über chemische Elemente bereitzustellen, wobei die sekundäre Elektronenbildgebung eine elementare Abbildung ermöglicht, um mehr Probendetails zu erzielen. Die Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ermöglicht die Oberflächencharakterisierung und die Messung von Korngrenzen und anderen Eigenschaften in Metallen, Keramiken und Zementen. Der EDX-Modus bietet eine verbesserte Erkennungsgenauigkeit und Empfindlichkeit mit einer einzigen Atomauflösung. Darüber hinaus können zahlreiche Detektoren zur Erweiterung der Fähigkeiten in die Kammer integriert werden, wie die energiedispersive Röntgenspektrometrie, die Röntgenbeugung und die laserinduzierte Abbauspektroskopie (LIBS). Alle diese analytischen Fähigkeiten ermöglichen es 6340 F, ein umfassendes Spektrum an Charakterisierungs- und Analyseleistungen bereitzustellen, was es zu einem idealen Werkzeug für Materialwissenschaften und industrielle Anwendungen macht.