Gebraucht JEOL 6400 #293651898 zu verkaufen

JEOL 6400 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in einer Vielzahl von Bereichen eingesetzt wird, einschließlich Materialwissenschaft und Medizin. Es ist ein kompaktes und zuverlässiges Instrument, das hochauflösende Bilder von inneren Strukturen erzeugt. 6400 arbeitet mit einer beschleunigenden Spannung von bis zu 200 kV, was einen verbesserten Kontrast der Funktionen, eine hochauflösende Bildaufnahme und eine verbesserte Schärfentiefe ermöglicht. Die im bildgebenden Verfahren eingesetzten energiereichen Elektronen geben den Bildern im Vergleich zu ähnlichen Instrumententypen größere Kontrast- und Vergrößerungsfähigkeit. JEOL 6400 verfügt über mehrere automatisierte Modi, die die Bedienung vereinfachen und es einfach machen, die gewünschte Bildqualität zu erreichen. Niedriger Vakuum-Modus hilft, Probenschäden zu reduzieren, was eine hochauflösende Abbildung von fragilen Proben ermöglicht. WideAngle-Optik bietet 25x Vergrößerung, die vorteilhaft für die Lieferung von hochauflösenden Bildern von großen Strukturen ist. 6400 bietet schnelle und zuverlässige Messungen mit seinen automatisierten Bühnenbewegungen und Musternutzern. Die automatisierte Erfassungsfunktion ermöglicht die gleichzeitige Bilderfassung mehrerer Proben, wodurch die Betriebszeit weiter reduziert wird. Die Flexibilität des bildgebenden Prozesses ermöglicht es dem Anwender, verschiedene Parameter wie Vergrößerung und Spotgröße einzustellen. Die Mobilität von JEOL 6400 ermöglicht den Einsatz in verschiedenen Labortypen und ist ideal für die Vermessung von Proben, die eine schadensarme Bildgebung erfordern. Das Gerät hat ein ergonomisches Design und ist leicht in einer Laborumgebung zu bewegen. 6400 eignet sich gut für die Abbildung einer Vielzahl von Materialien, einschließlich biologischer Proben, Mineralien, Metalle und Polymere. Der hohe Wirkungsgrad in Kombination mit seiner zuverlässigen Leistung macht ihn für ein breites Anwendungsspektrum geeignet. Darüber hinaus verbessert der Betriebsmodus mit niedrigem Vakuum die Bildgebungsleistung weiter und reduziert Probenschäden.