Gebraucht JEOL 6400F #9071901 zu verkaufen
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ID: 9071901
Wafergröße: 6"
Scanning electron microscope, (SEM)
6" Wafer loadlock
Chamber system
Secondary and backscatter imaging
Specimen stage:
Type: Fully eucentric goniometer stage
X-direction: 100 mm
Y-direction: 110 mm
Z-direction: 34 mm
Tilt: -5° to 60°
Rotation: 360° endless
Working distances: 5 - 39 mm
Specimen holder for 12.5 mm diameter x 10 mm height
Specimen holder for 32 mm diameter x 20 mm height
Specimen exchange:
By airlock up to 150 mm diameter specimen holders
By stage drawout 200 mm diameter or larger holders
Absorbed current measuring terminal: built-in
Specimen protection buzzer: built-in.
JEOL 6400F ist ein Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation (SEM). Dieses Instrument ist ein vielseitiges Werkzeug, das für eine Vielzahl von nanoskaligen bildgebenden und analytischen Anwendungen verwendet werden kann. 6400F verwendet eine Elektronenquelle, um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der dann fokussiert und manipuliert wird, um ein Bild der Probenoberfläche zu erzeugen. Dieses hochzuverlässige und empfindliche Instrument bietet die Vorteile einer hochauflösenden Bildgebung, analytischen Operationen mit hohem Durchsatz sowie einfache Bedienung und Wartung. JEOL 6400F ist mit einer variablen, wassergekühlten Elektronenpistole ausgestattet. Dies ermöglicht es Benutzern, den Betriebsdruck der Kammer einzustellen, um unerwünschte Oberflächenaufladung zu minimieren und eine genaue Probenbildgebung bereitzustellen, ohne dass die Beschleunigungsspannung angepasst werden muss. Die Pistole kann eine maximale Beschleunigungsspannung von 30kV erreichen und kann den Elektronenstrahl auf einen Punkt mit einem Durchmesser von 25 nm fokussieren. Eine Vielzahl von Detektoren sind im SEM enthalten, darunter: Sekundärelektronendetektor, rückgestreuter Elektronendetektor, energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) und wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS). Das EDS-System kann für die Elementaranalyse verwendet werden, während das WDS-System für eine genauere chemische Analyse verwendet werden kann. Neben bildgebenden und analytischen Operationen verfügt 6400F über mehrere weitere Funktionen, die es zu einem idealen Werkzeug für die Nanotechnologie-Forschung machen. Es enthält eine Stufe, die manuell oder automatisch gesteuert werden kann, so dass Benutzer Proben drehen, neigen oder verschieben können, um verschiedene Bereiche von Interesse abzubilden. Es umfasst auch automatisierte Bildverarbeitungs- und Betriebssoftware, die Forschern helfen kann, Daten, die für die Analyse benötigt werden, genau und schnell zu erfassen. JEOL 6400F bietet eine hervorragende Auflösung und hohe Stabilität und ist damit ein hervorragendes Instrument für die Nanotechnologie-Forschung. Es ist ein einfach zu bedienendes Instrument, und seine verschiedenen Eigenschaften machen es vielseitig genug, um für eine breite Palette von Anwendungen verwendet werden. Seine analytischen und bildgebenden Fähigkeiten übertreffen die von herkömmlichen Mikroskopiewerkzeugen und können Forschern helfen, wertvolle Einblicke in die nanoskalige Welt zu gewinnen, auf die traditionelle Techniken nicht zugreifen können.
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