Gebraucht JEOL 6400FV #9071902 zu verkaufen

JEOL 6400FV Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Mikroskop mit vielen Funktionen und Fähigkeiten. 6400FV ist eine fortschrittliche Ausrüstung für die Forschung in einer Vielzahl von Bereichen von Forensik bis Materialwissenschaft. JEOL 6400FV ist mit sekundärer Elektronenbildgebung und rückgestreuter Elektronenbildgebung ausgestattet, die hochauflösende Fähigkeiten für eine Vielzahl von Proben ermöglicht. Es ist auch für den Standard- und variablen Druckbetrieb konzipiert und verfügt über 4-Quadranten-Backscatter-Detektoren für verbesserte Charakterisierungsfunktionen. Darüber hinaus ist die Probenkammer mit mehreren Neigungswinkeln und Probengrenzen für verschiedene SEM-Anwendungen ausgestattet. 6400FV verfügt über einen neuen EDS-Detektor (Energy Dispersive Spectrometry), der aufgrund seiner großen aktiven Fläche und hohen Zählraten eine bessere Datenqualität bietet. Es verfügt auch über einen „festen Fensterbereich“, der die Zeit für die EDS-Datenerfassung reduziert und den Durchsatz erhöht. Darüber hinaus bietet dieses Instrument ein fortschrittliches Automatisierungs- und Computerüberprüfungssystem, das die Einrichtung der Einheit vereinfacht. JEOL 6400FV verfügt über eine digitale Kamera und computergesteuerte Software zur Datenerfassung und -analyse. Die Kamera bietet Bilder mit einer Auflösung von bis zu 5.120 x 3.840 Pixeln mit einer 16-Bit-Farbtiefe und bietet eine ganze Reihe von Farben und Details. Die computergesteuerte Software kann die Bilder verarbeiten und in jedem Computerformat speichern. Die bildgebenden Fähigkeiten der 6400FV werden durch ihren variablen Kammerdruck von bis zu 10-2 mtorr weiter verbessert. Auch JEOL 6400FV ist so konzipiert, dass es mit Verdampfern zum Beschichten von Proben mit dünnen Filmen und zum Abscheiden von Material arbeitet. Die fortschrittliche Maschine verfügt auch über einen Hochvakuum-Modus, der ideal für niedrige Hintergrundbilder ist. 6400FV ist ein fortschrittliches Tool, das eine breite Palette von Fähigkeiten für fortgeschrittene Forschung bietet. Die elektronische Bildgebung und die erweiterten Automatisierungsfunktionen ermöglichen es Anwendern, eine Vielzahl von Aufgaben zu erfüllen, einschließlich Materialcharakterisierung, forensische Untersuchungen und Dünnschichtabscheidung. Darüber hinaus kombinieren sich die variablen Drücke, Digitalkameras und computergesteuerte Software zu einem fortschrittlichen SEM, das sich ideal für eine Vielzahl von Anwendungen eignet.