Gebraucht JEOL 6480 #293651583 zu verkaufen

JEOL 6480 ist ein Rasterelektronenmikroskop zur Materialanalyse und -prüfung. Es bietet eine hohe Bildauflösung und eine breite Palette von Analysefunktionen. Das Mikroskop ist so konzipiert, dass es auch bei schwierigen Oberflächen eine hochempfindliche Bildgebung und Spurenanalyse ermöglicht. Herzstück des Mikroskops ist die Elektronenquelle der Feldemissionskanone (FEG), die Funkenlücken und elektrisches Rauschen beseitigt und eine hochauflösende Abbildung mit Niederspannungsbetrieb ermöglicht. Das FEG ermöglicht auch die Verwendung von variablem Strahlstrom und Elektronenbeschleunigungspotential, was eine signifikante Flexibilität in Bildgebungs- und Analysetechniken ermöglicht. 6480 arbeitet im SE-, BSE- und EDS-Modus, so dass der Benutzer eine Vielzahl von Studien durchführen kann. SE (Sekundärelektronen) -Bildgebung ist nützlich für Studien niedriger Vergrößerung der Probenoberfläche, BSE (Rückstreuelektronen) -Bildgebung ist gut geeignet für die Bildgebung und Topographie des Kontrastpegels und EDS (Energiedispersive Spektroskopie) bietet elementare Zusammensetzung Informationen etzung. JEOL 6480 verfügt zudem über eine einzigartige hochauflösende Kontrastvariationsfunktion, mit der Benutzer den Kontrastgrad der betrachteten Bilder optimieren können. Die variable Kontraststeuerung ermöglicht es Benutzern auch, mehrere Kontrastverbesserungen auszuwählen und für die zukünftige Verwendung zu speichern. Darüber hinaus verfügt 6480 über ein automatisiertes objektbasiertes 3D-Bildgebungspaket, das schnelle und genaue 3D-Rekonstruktionen des Objekts ermöglicht. Diese Funktion ist besonders nützlich für detaillierte Analysearbeiten. JEOL 6480 hat einen Arbeitsbereich von 1nm-, was eine extrem hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Es hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu 100.000x und ein Sichtfeld von bis zu 50.000x, mit der Fähigkeit, Bilder und Videos mit bis zu 27 Bildern pro Sekunde zu erfassen. Schließlich ist 6480 in der Lage, multimodale Bilder abzubilden, was bedeutet, dass es Bilder aus mehreren Abbildungsmodi in einem einzigen Bild kombinieren kann. Beispielsweise können SE-, BSE- und EDS-Bilder derselben Probe in einem einzigen Bild kombiniert werden, was eine schnelle und detaillierte Analyse von Proben ermöglicht.