Gebraucht JEOL 6490LV #293671640 zu verkaufen

JEOL 6490LV ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Reihe von analytischen Fähigkeiten für Forschungslabore bietet. Es bietet signifikante Vorteile für eine Vielzahl von Anwendungen wie In-situ-Analyse, Fehleranalyse, Schaltungsanalyse, Metallographie und 3D-Bildgebung. 6490LV ist mit einer JED 2421 variablen Druck-/Hochvakuumausrüstung ausgestattet, die sowohl Hochvakuum als auch variablen Druckbetrieb ermöglicht. Dies erhöht die Genauigkeit der Bildgebungs- und Analyseergebnisse, da es Strahldrift reduziert und eine überlegene Bildqualität unter allen Betriebsbedingungen gewährleistet. JEOL 6490LV ist mit einem W-Filamentdetektor mit geringer Absorption ausgestattet, der scharfe Bilder liefert und ein größeres Sichtfeld mit größeren Öffnungen bietet. Es hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu x500000 und eine seitliche Auflösung von 3 nm, was eine hervorragende Bildgebungsleistung ergibt und eine detaillierte Analyse von Objekten ermöglicht. Das Hochdurchsatzdesign von 6490LV ermöglicht ein schnelles Scannen großer Flächen unter Beibehaltung einer hervorragenden hochauflösenden Bildgebung. Es ist mit einem automatisierten Elektronenstrahl-Kontrollsystem ausgestattet, mit dem Benutzer ihre Experimente, Scanparameter und Bildmodi schnell einrichten können. Das Detektordesign von JEOL 6490LV unterstützt fortgeschrittene Detektionstechniken wie die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS). Darüber hinaus ist 6490LV mit einer digitalen Bildverarbeitungseinheit ausgestattet, die sofortigen Zugriff auf detaillierte, klare Bilder ermöglicht. Insgesamt ist JEOL 6490LV ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das eine Präzisionsanalyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Seine vielen vorteilhaften Merkmale, einschließlich seiner variablen Druck/Hochvakuum-Maschine, niedrige Absorption W-Typ Filament und automatisierte Elektronenstrahl-Steuerwerkzeug, machen es zu einem langlebigen und zuverlässigen Werkzeug für effiziente SEM-Anwendungen.