Gebraucht JEOL 6500F #9234597 zu verkaufen

JEOL 6500F Scanning Electron Microscope (SEM) ist eines der fortschrittlichsten Instrumente auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie. Es verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um detaillierte Bilder der Oberflächeneigenschaften und der Topographie von Proben zu erzeugen. Das SEM ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Proben im Bereich von 1 Nanometer bis 100 Mikrometer in der Größe zur Verfügung zu stellen. 6500F ist mit einer Schottky Feldemissionskanone ausgestattet, die einen ultrahohen Vakuumbetrieb und eine hervorragende Strahlstabilität ermöglicht. Diese Pistole ist auch in der Lage, durch Aufrechterhaltung eines konstanten Strahlstroms Hochstrom-Elektronenemissionsfähigkeiten bereitzustellen. Das Instrument verfügt auch über ein fortschrittliches Hochgeschwindigkeits-Scansystem, das eine schnelle Scan- und Bilderfassung ermöglicht. JEOL 6500F ist auch mit einer breiten Palette von Detektoren ausgestattet, die optimal für verschiedene Anwendungen wie sekundäre Elektronendetektoren (SE), Low und High Vacuum- Back Scattered Electron (BSE) Detektoren und einen Electron Gun Detector (EGD) geeignet sind. Dies ermöglicht die Erfassung verschiedener Arten von Elektronenbildern und spektroskopischer Daten aus Proben. Die mit dem Instrument versehenen Hochvakuumsysteme sorgen für eine minimale Strahlschädigung der Probenoberfläche. Dieses Elektronenmikroskop verfügt über eine breite Palette von Bildanalyse-Software, die verwendet werden kann, um Bilder zu vergleichen und kontrastieren oder quantitative Analyse in zwei und drei Dimensionen zu erhalten. Neben herkömmlichen Abbildungsmodi bietet dieses SEM auch einzigartige Abbildungsmöglichkeiten wie optische In-Linsen-Abbildungen, Kathodolumineszenz, Phasenkontrastabbildungen und elektronenstrahlinduzierte elektrostatische Kontrastabbildungen. 6500F ist mit einer großen Auswahl an Zubehör und Peripheriegeräten ausgestattet, um den Anforderungen vieler Anwendungen gerecht zu werden. Dazu gehören eine XYZ-automatisierte Bühne, Bildmanipulationsmodule, Umweltkammern, Vakuumsysteme und Probenvorbehandlungsgeräte. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein Roboterproben-Manipulationssystem zur automatisierten Probenhandhabung und eine Niederdruck-Tauchzelle zur Untersuchung von Proben bei höheren Drücken. Die Kombination seiner Eigenschaften und Fähigkeiten macht JEOL 6500F zu einem äußerst vielseitigen Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Untersuchung organischer und nichtleitender Materialien bis zur Charakterisierung von Nanogeräten. Dieses SEM bietet außergewöhnliche Leistung und Vielseitigkeit für Bildgebung und Analyse.