Gebraucht JEOL 6600F #9139649 zu verkaufen

JEOL 6600F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Betrachtung, Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien entwickelt wurde. Das SEM ermöglicht eine hochauflösende Analyse und Abbildung von Oberflächen ohne konventionelle optische Mikroskopiebeleuchtung. Dieses Modell bietet eine Vielzahl von Möglichkeiten, einschließlich Submikron-Auflösung Bildgebung bis zu 0,4 nm, digitale Röntgen- und EDS-Fähigkeiten, eine vielseitige Probenstufe, Probenbelastung und Beobachtung, und eine integrierte digitale Elektronenoptik Ausrüstung und Kammer. Das einzigartige digitale Elektronenoptiksystem des Instruments wurde entwickelt, um überlegene bildgebende Details und Konfigurierbarkeit zu bieten. Es ermöglicht eine präzise Ausrichtung des Elektronenstrahls und verfügt über dynamische Fokussierung und ultimative Tiefenschärfe. Darüber hinaus bietet die verbesserte regelmäßige Benutzeroberfläche Benutzerfreundlichkeit, so dass Benutzer Parameter wie Vergrößerung, Scangeschwindigkeit und mehr leicht anpassen können, um optimale Bildgebungsergebnisse zu erzielen. Die SEM-Kammer von JEOL 6600 F ist auch für die Aufnahme einer Vielzahl von Probengrößen, -formen und -materialien konzipiert. Seine automatisierten Probenbeladungs- und Beobachtungssysteme sorgen für einen effizienten Betrieb, und seine Probenstufe ist in der Lage, sich in mehreren Achsen mit präziser Koordination zu bewegen. Die SEM-Kammer dient mit ihrer integrierten Gassteuerung als wirksame Umgebung für Probenwechsel mit minimalem Risiko statischer und thermischer Unregelmäßigkeiten. 6600F bietet auch eine Vielzahl von digitalen Bildgebungs- und Analysefunktionen. Die mitgelieferte Röntgen- und EDS-Software ermöglicht Anwendern die einfache Erfassung von großflächigen und quantitativen Bildgebungsdaten in einer Reihe von Anwendungen wie elementarer Abbildung und automatischer Beugungsanalyse. Die mitgelieferte digitale Bildverarbeitungs- und Analyseeinheit bietet eine Reihe von zusätzlichen Funktionen, einschließlich der genauen Abbildung verschiedener Probenoberflächen, der automatisierten Bildproduktion und der Bildverbesserung. Abschließend ist 6600 F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Oberflächen entwickelt wurde. Es verfügt über eine digitale Elektronenoptikmaschine, eine vielseitige Probenstufe, eine integrierte Gassteuerung und eine Reihe von digitalen Bildgebungs- und Analysefunktionen, mit denen Benutzer detaillierte Bild- und Quantifizierungsdaten für eine Vielzahl von Materialien erfassen können.