Gebraucht JEOL 6701F #9077186 zu verkaufen

JEOL 6701F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen entwickelt wurde. Es besitzt eine feldemissionsförmige Kaltkathoden-Elektronenkanone zur Erzeugung eines hochfokussierten Elektronenstrahls, der dann in einem Rastermuster mit hoher Geschwindigkeit über die Probe abgetastet wird. Der Elektronenstrahl interagiert mit der Probe und die von der Probenoberfläche erzeugten Sekundärelektronen werden dann zu einem digitalen Bild der Probe gesammelt. Dieses SEM hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30kV, so dass auch für sehr dünne Proben sowie für Lichtelemente eine hochauflösende Bildgebung erreicht werden kann. Die Strahldivergenz beträgt nur 1 mrad, was die extrem hohe Auflösung von bis zu 1Å liefert. Die Genauigkeit von Bild und Schärfentiefe wird auch durch den großen Sammelwinkel der Einheit von bis zu 50mrad verbessert. Der von 6701F erzeugte Elektronenstrahl wird nicht nur fokussiert, sondern auch mit dem optischen Strahlstabilisator (OBS) stabilisiert. Dieses System behält einen stabilen Strahldurchmesser und Querschnitt bei, um Bildschärfe und Auflösung zu gewährleisten. Das Gerät verfügt auch über eine Reihe von erweiterten Abbildungsmodi, die Aktivitäten wie elementare Charakterisierung, E-Strahl-Lithographie und Frei-und-Kontakt-Modus-Bildgebung ermöglichen. Das omegascan Automatic Scanning System (ASS) ermöglicht die schnelle Erfassung von topographischen Bildern sowie Nano-Omiting, das die höchste Auflösung auf dem Markt bietet. Darüber hinaus beinhaltet JEOL 6701F eine automatisierte Probenmanipulation. Sein Muster-Handhabungssystem führt die Probe automatisch durch Routineaktionen wie Laden, Orientierung, Ausrichtung und Fokussierung aus. Das Auto-Standby-Feature reduziert die Betriebszeit weiter. All diese Merkmale, zusammen mit der überlegenen Leistung von 6701F, machen es zu einem idealen SEM für Forscher in verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaft und Mikroelektronik.