Gebraucht JEOL 7100FLV #9315317 zu verkaufen

JEOL 7100FLV
ID: 9315317
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM) THERMO SuperDry EDS Backscattered electron detector Secondary electron detector.
JEOL 7100FLV ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Technologie mit Benutzerfreundlichkeit kombiniert. Es ist ein vertikales Rasterelektronenmikroskop, das eine Feldemissionskanone und ULV-Elektronenoptik (Ultralowspannung) verwendet, um Bilder mit super hoher Auflösung zu erzeugen. Es ist in der Lage, sowohl hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (SEM) Bilder und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) zu erzeugen. Der Elektronenstrahl von 7100FLV wird durch eine Feldemitterpistole erzeugt, die eine stark verbesserte Auflösung und maximale Übertragung ermöglicht, wodurch hochauflösende Bilder erzeugt werden können. Dies steht im Gegensatz zu herkömmlichen SEMs mit einer kalten Kathodengewehr, die an einer signifikanten Bewegungsunschärfe leiden, die die Bildauflösung negativ beeinflussen kann. Die ULV-Optik von JEOL 7100FLV verbessert die Auflösung des SEM weiter und ermöglicht die Beobachtung und Analyse extrem kleiner Merkmale. 7100FLV ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Abbildungsmodi. Dazu gehören die Standard-Lichtfeld (BF) und Dunkelfeld (DF) Bildgebungsmodi sowie das korrelative Lichtmikroskop (CLIM). Dies ermöglicht eine Korrelation zwischen SEM und optischer Mikroskopie für die mehrdimensionale Analyse. Zusätzlich kann man mit einem nassen Referenzprobenhalter nasse Proben zur Analyse in die SEM-Kammer legen. JEOL 7100FLV enthält auch eine Computerschnittstelle mit einem einfach zu bedienenden Softwarepaket, mit dem Bilder erfasst, vergrößert, gedreht und analysiert werden können. Dieses Paket enthält auch leistungsstarke Bildverarbeitungs- und Analysesoftware, um eine breite Palette von Analysen und Messungen zu ermöglichen. 7100FLV ist eine ideale Wahl für Wissenschaftler und Forscher in einer Vielzahl von Bereichen, insbesondere diejenigen, die eine Abbildung von kleinen Merkmalen erfordern. Dieses SEM bietet eine hervorragende Auflösung und eine breite Palette von bildgebenden Funktionen mit einer einfach zu bedienenden Software-Schnittstelle, was es zu einem leistungsstarken Instrument für selbst die komplexesten bildgebenden Arbeiten macht.
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