Gebraucht JEOL 7200 #9274854 zu verkaufen

JEOL 7200
ID: 9274854
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With EDS system.
JEOL 7200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das häufig in einer Vielzahl von analytischen und Forschungsanwendungen eingesetzt wird, einschließlich biologischer, polymerer, mineralischer und Materialforschung. Das SEM arbeitet in drei verschiedenen Betriebsarten: sekundäre Elektronenbildgebung (SEI), rückgestreute Elektronenbildgebung (BEI) und energiedispersive Röntgendetektion (EDX). 7200 bietet eine ausgezeichnete Abbildung von Proben, die ferner eine Kartierung und elementare Analyse von Zusammensetzungen der Probe ermöglicht. Das SEM verfügt über eine automatisierte Vakuumausrüstung zur Behandlung der Probe und eine hohe Elektronenstrahlstromauflösung zur besseren Bildgebung. Die integrierten Umwelt- und Analysesysteme bieten zudem überlegene chromatographische Merkmale wie elementare Mikroanalyse und Gaschromatographie. JEOL 7200 hat einen breiten Auflösungsbereich, der für eine Vielzahl von Proben geeignet ist; es verfügt über ein Detektorsystem, das eine automatisierte Bildabtasteinheit verwendet und den Scanbereich und die Vergrößerung automatisch einstellt. Das SEM verfügt auch über eine Feldemissionskanone und eine bildgebende Elektronik; es ist mit einem ultrahohen-Treue Elektronenkanonen Emitter, hochstabile Abtastablenker und gekoppelt mit digitalen Elektronik für Elektronenstrahlung ausgestattet. 7200 SEI-Modus kann verwendet werden, um wahre Farbbilder von Proben zu erfassen. Mit dem BEI-Modus können Oberflächenrauhigkeit, Porosität und Strukturtexturen von Proben gemessen werden. Der EDX-Modus ermöglicht die elementare Analyse der Probe. Die integrierte Gaschromatographie-Maschine bietet darüber hinaus überlegene Analysefähigkeiten für Forschungsanwendungen. JEOL 7200 bietet überlegene bildgebende und analytische Fähigkeiten für Forschungsanwendungen. Es verfügt außerdem über ein hochauflösendes Elektronenstrahl-Betrachtungswerkzeug, eine Elektronenoptik, die mit bis zu 150kV arbeiten kann, und eine präzise 3-Achsen-Nanometerstufe. Das SEM wird für eine Reihe wissenschaftlicher Forschungsanwendungen wie die Untersuchung von Elementverteilungen in Mikrostrukturen, die Durchführung organischer und anorganischer Elementaranalysen oder die Untersuchung der Oberflächen von Materialproben eingesetzt.
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