Gebraucht JEOL 7400 #9399277 zu verkaufen

Das JEOL 7400 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein branchenführendes Gerät zur Bildgebung und Analyse von Oberflächenmorphologien. Es ist eines von JEOL fortschrittlichen und leistungsstarken Mikroskopen, die hervorragende Leistung mit modernsten Funktionen kombinieren. 7400 ist in der Lage, hochauflösende, hochempfindliche Bilder zu erfassen und gleichzeitig die Umweltbedingungen während der Beobachtung genau zu kontrollieren. JEOL 7400 ist eine Feldemission SEM und beinhaltet eine integrierte Feinfokus-Elektronenquelle, eine hochgenaue Strahlstromregelung und niedrige Ladestromemissionen. Dieses SEM arbeitet bei Temperaturen von -100 ° C bis 100 ° C und bietet eine vielseitige Bildgebung von biologischen und nichtbiologischen Proben. Darüber hinaus ist es in der Lage, hochauflösende Bildgebung und Analyse von nichtleitenden Proben mit Umwelt-SEM-Technologie zu erzeugen. Mit seinen großen 21,3 cm (B) x 19 cm (H) Sichtfeld und 3nm Auflösung bietet 7400 hochauflösende Bildgebung und präzise 3D-Probenanalyse. Es verfügt über die höchstauflösende Bildgebung mit einer Auflösung von 50nm, eine halbautomatische Probenübertragung und eine intuitive Benutzeroberfläche. Darüber hinaus erfordert dieses SEM eine minimale Wartung, verfügt über eine ausgezeichnete niedrige Beschleunigungsspannungsleistung und bietet niedrige Betriebskosten. JEOL 7400 bietet eine Vielzahl von zusätzlichen Funktionen, einschließlich Bildmanipulations- und Analysefunktionen, Live-Bildgebung, hochauflösende Sekundärelektronen-Detailbildgebung und spezielle Betriebsmodi zur Herstellung kristalliner Strukturen. Sein proprietäres Vergrößerungssystem ermöglicht 7400 auch eine bis zu 500.000fache Vergrößerung ohne Verzerrung der beobachteten Probe. Darüber hinaus ist dieses SEM in der Lage, eine breite Palette von Vergrößerungen in einer einzigen Belichtung zu erwerben, was eine effiziente Nutzung des bildgebenden Systems ermöglicht. Das Rasterelektronenmikroskop JEOL 7400 bietet eine unübertroffene Leistung und eine hochauflösende Bildgebung mit präziser 3D-Probenanalyse. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche, der halbautomatische Probentransfer und die optionale Umwelt-SEM-Technologie bieten Wissenschaftlern eine verbesserte Leistung und Effizienz. Mit seinem proprietären Vergrößerungssystem und erweiterten Bildgebungsfunktionen ermöglicht 7400 eine genaue Beobachtung einer Vielzahl von Proben.