Gebraucht JEOL 7400 #9410397 zu verkaufen

JEOL 7400 ist ein Scanelektronenmikroskop (SEM) -System, das sorgfältig entwickelt wurde, um eine zuverlässige hochauflösende Bildgebung und Analyse von Materialien in einer Vielzahl von Anwendungen zu ermöglichen. Dieses SEM ist mit einer Feldemissionskanone (FE) und einer Säule mit einer gekippten Probenstufe ausgestattet, die eine Vielzahl von Proben verarbeiten kann, einschließlich fragiler Objekte. Dieses SEM ist mit einer Elektronenkanone ausgelegt, die eine hohe Stabilität, eine große Tiefenschärfe und geringe Hintergrundgeräusche sowie eine große Probenkammer für unterschiedliche Probengrößen aufweist. 7400 ist in der Lage, große Strukturen bei hohen Vergrößerungen abzubilden, und seine Röntgenanalyse liefert hervorragende Informationen über die chemische Zusammensetzung. Es bietet auch genaue sekundäre Elektronenbildgebung bei kleinen Strahlströmen, so dass es gut geeignet für die Abbildung von empfindlichen Proben. JEOL 7400 verfügt über eine Elektronenoptik-Anordnung, die eine In-Column-Apertur-Blende enthält, um einen vollen Bereich von Strahlströmen von Nanoampere bis -ampere zu ermöglichen. Es hat auch eine in-column Objektiv für eine Reihe von Vergrößerungen bis zu 50000x. Die Elektronenquelle hat eine Lebensdauer von 30.000 Stunden, die höchste Leistung und Genauigkeit für Langzeitstudien gewährleistet. 7400 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes SEM, das eine Kombination aus exzellenter Bildgebung, großer Tiefenschärfe und Integration von In-Column-Detektoren für die Röntgenspektroskopie bietet. Dieses SEM wurde entwickelt, um zuverlässige und genaue Ergebnisse auf einer breiten Palette von Materialien zu liefern. Damit ist sie ein ideales Instrument für die biologische, geologische und metallurgische Analyse.