Gebraucht JEOL 840 #293618108 zu verkaufen

JEOL 840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Anwender, die nach fortschrittlicher Bildgebungstechnologie suchen. Es bietet eine erstklassige bildgebende Leistung und bietet eine breite Palette von Funktionen, die sich ideal für Forscher eignen, die sowohl routinemäßige als auch anspruchsvolle bildgebende Anwendungen durchführen. Mit seinem leistungsstarken SEM-Paket können Anwender schnelle und zuverlässige Bildgebung für vielseitige Probentypen und eine breite Palette von Probendicken durchführen. Dieses Instrument verfügt auch über ein innovatives Wien Filter Spectrometer (WFS), das in der Lage ist: schnelle und zuverlässige Elementaranalyse, EDS mit Vollspektrum-Bildgebung, automatische Messung der Zusammensetzung an jedem Pixel schnell und genau sowie Bild-für-Bild-Elementarabbildung der Probe. 840 's SEM-Paket besteht aus einer Feldemission Everhart-Thornley Pistole mit 4:1 TV-Kontrast, einem ringförmigen Dunkelfelddetektor mit niedrigem Winkel und einem fünffachen Polstück, das nachweislich astigmatische Aberrationen verhindert. Das SEM hat auch eine breite Palette von High-End-Elektronenoptiken, einschließlich rückgestreutem Elektronendetektor (BSD), sekundärem Elektronendetektor (SED) und einem Niederspannungs-Sekundärdetektor (LVSD). Es ist in der Lage, Bilder mit hohem Kontrast mit einem extrem niedrigen Rauschpegel zu erfassen, was eine hervorragende optische Elektronenleistung und ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis liefert. Das WFS in Kombination mit dem SEM-Paket ermöglicht es Benutzern, simultane Vollspektrum- und Elementarinformationen mit ultrahoher Auflösung für Elementaranalysen und Elementarabbildungen sofort zu sammeln. Das WFS ist mit einem innovativen ultraschnellen Spektrometer ausgestattet, das die schnelle Erfassung von Spektrum- und Röntgenbeugungsinformationen aus derselben Aufnahme ermöglicht. Darüber hinaus ist das Instrument mit einer Vielzahl von Materialien vorprogrammiert, während der Strahlungsdetektor eine ausgezeichnete Bildauflösung mit Röntgensignalen bietet, die bis zu 12kV mit Referenzinformationen für jeden Bildlauf gespeichert werden. Die Software-Umgebung von JEOL 840 ist für Hochgeschwindigkeits-Imaging und Datenanalyse optimiert. Es enthält eine benutzerfreundliche Bildbearbeitungsoberfläche, die eine Reihe leistungsfähiger IQ- und 3D-rekonstruktiver Bildgebungstechniken umfasst. Neben diesen bildgebenden Verfahren ermöglicht die Touchscreen-Schnittstelle auch eine schnelle Bildübertragung und den Export von Datensätzen mit ausgezeichneter Informationssicherheit. Insgesamt ist 840 eine fortschrittliche Bildgebungstechnologie, die die besten in modernen SEM-Paketen mit der ultimativen Elektronenoptik und WFS-Fähigkeiten kombiniert. Es bietet schnelle, zuverlässige Bild- und Elementaranalyse, ausgezeichnete Bildauflösung und kontrastreiche Bilder mit extrem niedrigem Rauschpegel. JEOL 840 ist ideal für routinemäßige und anspruchsvolle bildgebende Anwendungen und ist der perfekte Begleiter für Forscher, die die beste Leistung in der Elektronenmikroskopie erzielen möchten.