Gebraucht JEOL 840 #9068026 zu verkaufen

JEOL 840
Hersteller
JEOL
Modell
840
ID: 9068026
Scanning electron microscope, (SEM) Includes control panel.
JEOL 840 Scanning Electron Microscope (SEM) ist eines der leistungsstärksten und zuverlässigsten SEMs, das es gibt. 840 Rasterelektronenmikroskop hat eine Reihe von Funktionen, die es zu einem leistungsfähigen und vielseitigen Werkzeug für wissenschaftliche Forschung machen. Erstens nutzt die JEOL 840 SEM-Ausrüstung die Kaltfeld-Emission in Kombination mit einem Cäsium-basierten Aberrationskorrektor, um eine beispiellose Sub-Nanometer-Auflösung zu erreichen. Dies ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung mit einer durchschnittlichen Auflösung von 0,5 nm und einer Fähigkeit, Vergrößerungen zu erzeugen, die bis zu 100.000 Mal größer sind als die tatsächliche Größe der Probe. 840-System ist auch mit einer hochempfindlichen Energy Dispersive X-Ray (EDX) -Einheit ausgestattet, die sehr kleine Konzentrationen von Elementen mit außergewöhnlicher Genauigkeit erkennen kann. Dieses Merkmal ist aufgrund seines hohen Signal-Rausch-Verhältnisses besonders wertvoll für chemische Analysen und Elementabbildungen. Das SEM hat auch eine Vielzahl von Merkmalen für die Probenmanipulation. Dazu gehören eine ultrastabilisierte Plattform, eine schnelle Scangeschwindigkeit (bis zu 5000 Bilder pro Sekunde), eine SkelVac-Vakuummaschine und die Möglichkeit, die Probe für die winkelspezifische Bildgebung zu neigen. Schließlich ist JEOL 840 auch mit fortschrittlicher automatisierter Erfassungs- und Analysesoftware für die Bild- und Musterbearbeitung kompatibel. Dazu gehören erweiterte Algorithmen zur Bildverbesserung, wie 3D-Rekonstruktion und statistische Bildanalyse. Die fortschrittlichen Funktionen von 840 SEM-Tool machen es die ideale Wahl für Wissenschaftler, die ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug für eine breite Palette von Anwendungen benötigen. Dazu gehören Materialwissenschaft, Halbleitergeräteherstellung, Life Sciences-Analyse und forensische Untersuchungen. Mit seiner überlegenen Auflösung, Geschwindigkeit und Benutzerfreundlichkeit ist das Rasterelektronenmikroskop JEOL 840 eine zuverlässige und leistungsstarke Wahl für eine Vielzahl von Forschungs- und Industriebedürfnissen.
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