Gebraucht JEOL 840A #9157331 zu verkaufen

JEOL 840A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in vielen materialwissenschaftlichen und industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Es verfügt über ein Vakuum-Dreifachstrahlgerät, das aus einem fokussierten Ionenstrahl (FIB), Sekundärelektron (SE) und rückgestreuten Elektronendetektoren (BSE) besteht. Die SEM-Analyse erzeugt hochauflösende Bilder bei Vergrößerungen bis 100.000x. Darüber hinaus sind die SEM-Bilder in der Lage, Oberflächenmorphologie, elementare Konzentrationen oder Kristallstruktur darzustellen. 840A ist mit einer S/TEM-Konfiguration (Raster-/Transmissionselektronenmikroskop) für Vielseitigkeit ausgelegt. Dies ermöglicht eine hochauflösende Abbildung elektronentransparenter Proben sowie eine konventionelle Rasterelektronenbildgebung. Die breite Vakuumzwischenkammer ist sowohl mit Gasfeldemissions- als auch mit Thermofeldemissionsquellen kompatibel und verfügt über mehrere Gasleitungen und Einlassleitungen für den SE- und BSE-Modus. Darüber hinaus bietet JEOL 840A eine optionale vollautomatische FIB-vorbereitete SEM-Bildgebung, die es ermöglicht, elektronentransparente Bilder und FIB-vorbereitete Proben für die SEM-Bildgebung zu erfassen. 840A bietet erweiterte Funktionen, wie z. B. On-Axis und Off-Axis Filmdicke und Zusammensetzungsmessung, ein Proben-Scan-Auto-Erkennungssystem, ringförmige Detektoren, variabler Druckbetrieb und digitale Bildsimulationsfunktionen. Mehrere der fortgeschrittenen Merkmale des SEM ermöglichen eine quantitative Analyse der Probenstruktur. Die On-Axis-Messeinheit misst die Materialdicke während der Echtzeit-Bildgebung, während der Off-Axis-Detektor die elementare Zusammensetzung der Probe mit einer beschleunigten Abtastrate misst. Darüber hinaus bietet das SEM eine automatische Bildregistrierung und automatische Scanfunktion für die freihändige Probenanalyse. JEOL 840A verwendet eine Bildprozessmaschine und -software, um die SEM-Analysedaten zu digitalisieren, zu speichern, zu verarbeiten und zu speichern. Darüber hinaus bietet das Tool brillante Nachbearbeitungsfunktionen wie Messverarbeitung, Elementmapping, Layer Mapping, Bildverarbeitung und 3D-Rekonstruktion. Abschließend ist 840A ein vielseitiges, fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und erweiterte Funktionen ermöglicht. Es ist in der Lage, eine detaillierte Oberflächen- und Elementaranalyse einer Vielzahl von Proben bereitzustellen und eignet sich für eine Vielzahl von industriellen und materialwissenschaftlichen Anwendungen.