Gebraucht JEOL 845A #9157332 zu verkaufen

JEOL 845A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse unterschiedlichster Materialien. Es verwendet einen energiedispersiven Röntgendetektor (EDS) und einen hochauflösenden Sekundärelektronendetektor (SE), um überlegene Bildgebungs- und Analysefunktionen bereitzustellen. SEMs wie 845A ermöglichen es Forschern, eine Vielzahl von Informationen wie chemische Zusammensetzung, Korngröße, Oberflächentopographie und kristalline Phase zu gewinnen. JEOL 845A verwendet einen Wolframfaden mit einem maximalen Strahldruck von 3 nA, was eine sehr hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Sein Hochspannungsstrahl-Abtastsystem ermöglicht eine schnelle Bilderfassung und der einstellbare Arbeitsabstand des Probenhalters ermöglicht mehr Flexibilität bei großen Proben. 845A ist mit einem alpha-rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) ausgestattet, der die Oberflächenmikrotopographie einer Probe detektiert und abbildet und aufgrund ihrer Zusammensetzung eine Unterscheidung zwischen Materialien ermöglicht. JEOL 845A ist mit einem optionalen energiedispersiven Röntgendetektor (EDS) ausgestattet, der eine elementare Analyse einer Probe ermöglicht. Der Niedervakuumbetrieb ermöglicht es, nichtleitende Materialien bei höherer Vergrößerung als andere SEMs zu analysieren. Der EDS-Detektor liefert zusätzliche Informationen über die Zusammensetzung und Verteilung von Probenbestandteilen und kann zur Bestimmung von Phasenanteilen, zur Identifizierung von Spurenelementen oder zur Bestimmung von Teilchengrößenverteilungen verwendet werden. 845A bietet eine schnelle Signalverarbeitung und Bilderfassung und eignet sich somit für schwer zu manipulierende Proben, die eine sehr detaillierte Bildgebung erfordern. Es ist mit einem automatisierten Ausrichtungs- und Ausrichtungskorrektursystem ausgestattet und wird standardmäßig mit einem leistungsstarken Vergrößerungsregler geliefert, der eine präzise Fokussierung der Probe ohne manuellen Eingriff ermöglicht. Darüber hinaus kann der Endbenutzer andere Parameter wie Spannung und Strom anpassen, um die Bildqualität und Signalstärke zu optimieren. Insgesamt bietet JEOL 845A eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, die es zu einer ausgezeichneten Wahl für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probenmaterialien machen. Seine Fähigkeit, eine Vielzahl von Probeninformationen mit einem optionalen EDS-Detektor zu erfassen, macht es zu einem leistungsfähigen Werkzeug für Forscher, die nach detaillierten Analyseergebnissen suchen.