Gebraucht JEOL ARM 200 F #9160516 zu verkaufen

JEOL ARM 200 F Scanning Electron Microscope (SEM) bietet überlegene bildgebende Funktionen für routinemäßige Laborarbeit und Forschung. Das Hochleistungsgerät mit einer Auflösung von 5 nm in alle Richtungen eignet sich perfekt für die Abbildung von organischen und anorganischen Stoffen. Das Gerät eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, darunter Kristallographie, Fehleranalyse, Bildgebung von Materialien und deren physikalische und chemische Eigenschaften. Das System umfasst einen gasförmigen Sekundärelektronendetektor (G-SE) für echte 3D-Bildgebung, eine Ionenquelle für die EDS-Mikroanalyse und einen großen Detektor mit niedrigem Hintergrund zur Maximierung des Kontrastes von ultrafeinen Oberflächenmerkmalen. ARM 200 F SEM bietet eine Vakuumumgebung und eine breite Palette von Vergrößerungen von 8x bis 500.000x. Es ist auch mit einer Dual-Elektronenkanone Einheit für überlegene Strahlstabilität und Kontrolle ausgestattet. Zu den fortschrittlichen Funktionen der Maschine gehört eine patentierte fokussierte Ionenstrahl-Technologie zur Erstellung von Musterquerschnitten. Es ist auch mit einem Sondenkorrekturwerkzeug ausgestattet, um die bestmögliche Bildqualität zu gewährleisten. Darüber hinaus bietet das Asset eine automatisierte Bedienung, Computersteuerung und eine Reihe von Zubehör wie eine Hochhausstufe für die Analyse größerer Proben und ein digitales Abbildungsmodell für die Probenanalyse und den Vergleich. Der leistungsstarke JEOL ARM 200 F SEM ist ein zuverlässiges Werkzeug für die Elektronenmikroskopie. Es bietet hervorragende Leistung für anspruchsvolle Bildgebungs- und Analyseanforderungen zu einem erschwinglichen Preis. Das Gerät ist benutzerfreundlich und bietet eine intuitive und intuitive Benutzeroberfläche. Die robuste und zuverlässige Struktur bietet eine hervorragende Haltbarkeit und stellt sicher, dass das System auch in Zukunft zuverlässige und genaue Ergebnisse liefert.