Gebraucht JEOL ARM200CF Super X #9274124 zu verkaufen

JEOL ARM200CF Super X Scanning Electron Microscope (SEM) ist eines der fortschrittlichsten Rasterelektronenmikroskope auf dem Markt heute. Es ist ideal für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Materialanalyse und medizinischer Forschung. Das System bietet hochauflösende Bildgebung bis zu 200kV mit einer Kondensatorlinse und ermöglicht den gleichzeitigen Anschluss von bis zu vier Probenhaltern. ARM200CF Super X SEM verfügt über einen überlegenen Tiefenschärfemechanismus (DOF), um eine erweiterte Schärfentiefe bereitzustellen und Bilder innerhalb der Fokusebene ohne die Verwendung mehrerer bildgebender Bedingungen zu halten. Es verfügt auch über eine einzigartige Field Emission Gun (FEG) -Technologie, die ein überlegenes Signal-Rausch-Verhältnis ergibt, das eine höhere Auflösung als herkömmliche SEMs ermöglicht. Die FEG-Technologie ermöglicht auch schnelleres Scannen für einen verbesserten Durchsatz. Darüber hinaus verwendet JEOL ARM200CF Super X SEM eine fortschrittliche sekundäre Elektronenbildtechnologie (SEM PED), um die Kontamination der Proben von der Grenzfläche zwischen der Elektronenquelle und der Probe zu begrenzen. Die verbesserte Auflösung und Detailgenauigkeit dieses topographischen Bildgebungsverfahrens wird durch den Einsatz von Sekundärelektronendetektion zusammen mit analytischen Techniken wie XEDS, ESP und Crystal Orientation Mapping verbessert. ARM200CF Super X SEM bietet auch eine Reihe benutzerfreundlicher Funktionen wie automatisierte Waferanalyse und routinemäßige/halbautomatische Programmierung sowie ein Autofokus-System zur Probenpositionierung und exakten Bedienung. Die hervorragende Leistung und die benutzerfreundlichen Eigenschaften dieses SEM machen es zur perfekten Wahl für anspruchsvolle bildgebende Anwendungen.