Gebraucht JEOL ARM200CF Super X #9293905 zu verkaufen

JEOL ARM200CF ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit fortschrittlichen analytischen Funktionen. Es verfügt über eine hochauflösende monolithische Polysilizium-CCD-Kamera für hochempfindliche Bildgebung sowie eine hochintensive Schottky-Feldemissionskanone (FEG) für hochauflösende Bildgebung. Dieses Elektronenmikroskop ist in der Lage, sehr detaillierte Bilder auch kleiner Proben bei extrem hoher Vergrößerung zu erfassen. Die ARM200CF basiert auf einer variablen Druckspalte (VP) und verfügt über die SuperX QuickScan-Bildgebungstechnologie, die überlegene Bilder mit schnelleren Scangeschwindigkeiten im Vergleich zu anderen Technologien bietet. Die Spalte verwendet auch einen schnell fahrenden Scanner, der eine bessere Auflösung, einen verbesserten Kontrast und eine schnellere Verarbeitung für die Echtzeit-Bildgebung bietet. Das Säulendesign basiert auf einem invertierten optischen System, das niedrige Betriebskosten und eine verbesserte Scanauflösung ermöglicht. Das ARM200CF verfügt auch über eine integrierte automatische Probenphase für einfache Bedienung, mit einer Temperaturregelung für wiederholbare Probenvorbereitung für konsistente Ergebnisse. Die schnelle Scangeschwindigkeit und die geringen Betriebskosten machen dieses Modell ideal für Aufgaben mit hohem Durchsatz wie fortschrittliche Metallographie, Materialforschung, Fehleranalyse und Dimensionsmessung. Die leistungsstarke Bildgebungssoftware ermöglicht zudem eine schnelle Datenerfassung mit Hochgeschwindigkeits-Bilderfassung und Integration in Laborsoftware. Das ARM200CF ist auch mit erweiterten bildgebenden Funktionen wie einem sekundären Elektronenunterdrückungsfilter (SESF), einem rückgestreuten Elektronenbild (BSE) und einem Beugungskontrastbild (DCI) ausgestattet. Der SESF wird verwendet, um kontrastarme Merkmale zu erkennen und elektrostatische Felder zu unterdrücken, während das BSE-Bild Oberflächenmerkmale der Probe aufzeigt und das DCI-Bild Kristallgitter verbessert. JEOL ARM200CF ist ein High-End und zuverlässige Elektronenmikroskop, bietet überlegene Leistung und erweiterte analytische Fähigkeiten in einem kompakten System. Seine hochauflösenden Bildgebungsfunktionen, schnellen Scangeschwindigkeiten, niedrigen Betriebskosten und flexiblen Probenstufen machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen.