Gebraucht JEOL BX-MWC1002T93 #9282256 zu verkaufen

JEOL BX-MWC1002T93 ist ein Dual-Strahl-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein hochwertiges All-in-One-Gerät für Anwendungen in der Chemie und Materialforschung bietet. Seine hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten liefern den Forschern detaillierte Bilder der Strukturen verschiedener Materialien. Es hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu 150.000x, so dass es ideal für die Anzeige von Minuten Details von Proben. Zu den leistungsstarken Merkmalen gehören eine invertierte elektronenoptische Säule mit einer magnetisch schwebenden Stufe zur überlegenen Probenmanipulation, eine variable Druckabtastfähigkeit zur Schaffung optimaler Abbildungsbedingungen und eine Auflösung von bis zu 0,4 Nanometern. Automatisierungsfunktionen sorgen für konsistente Ergebnisse, indem sie die bildgebenden Bedingungen für jede Probe aus einer Vielzahl von Materialien optimieren. BX-MWC1002T93 ist mit einem fortschrittlichen Röntgenenergiedispersiven (XEDS) System zur Elementaranalyse von Proben ausgestattet. Die Einheit ermöglicht es Benutzern, die elementare Zusammensetzung der Proben zu identifizieren und zu quantifizieren sowie detaillierte Informationen über die Struktur der Probe bei verschiedenen Vergrößerungen zu erhalten. Das SEM integriert auch eine Hochleistungselektronenoptik, die es Anwendern ermöglicht, sich auf verschiedene Bereiche der Probe innerhalb des gleichen Sichtfelds zu konzentrieren, was es zu einer idealen Wahl für die Abbildung komplexer Merkmale und Strukturen macht. Darüber hinaus verfügt die Maschine über ein patentiertes nanofokussierendes Werkzeug, das eine hochvergrößerte Bildgebung ermöglicht, ohne die Bildqualität zu beeinträchtigen. Die Anlage ist einfach zu installieren und benutzerfreundlich und umfasst eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysetools, um sie an die individuellen Bedürfnisse anzupassen. Darüber hinaus beinhaltet es eine intelligente und automatisierte Probenanalyse zur schnellen und einfachen Datenerfassung, auch für schwierige Proben. Insgesamt ist JEOL BX-MWC1002T93 ein ideales Rasterelektronenmikroskop für detaillierte Untersuchungen von Materialien und deren Strukturen. Dank seiner Eigenschaften eignet es sich nicht nur für Anwendungen in der Material- und Chemieforschung, sondern auch für biologische und industrielle Anwendungen. Seine hochauflösenden Bildgebungsfunktionen ermöglichen es Benutzern, die Struktur von Materialien bei verschiedenen Vergrößerungen zu beobachten, und seine erweiterten Analyseeigenschaften liefern detaillierte Ergebnisse sowohl der Mikro- als auch der Nanoskopie-Ebene.