Gebraucht JEOL BX-WAC300B93 #9282276 zu verkaufen

JEOL BX-WAC300B93 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungs-SEM-Gerät, das die Beobachtung und Analyse einer Vielzahl von Materialien in einer Vielzahl von Umgebungen ermöglicht. Dieses Modell kombiniert fortschrittliche Elektronenoptiken mit einer 300kV Beschleunigungsspannung für eine zuverlässige Abbildung einer Vielzahl von Objekten. Es ist in der Lage, eine Auflösung von 0,7 nm abzubilden und kann Vergrößerungen von bis zu 100.000x erreichen, was es ideal für die Anzeige kleiner Merkmale auf Proben macht. BX-WAC300B93 verfügt über eine große Auswahl an Funktionen, die eine hochauflösende Bildgebung ermöglichen, wie eine digitale LCD-Monitoranzeige, einen einstellbaren Strahlstrom und eine Elektronenoptik mit variablem Druck. Die CEF-Elektronenoptik verhindert, dass unerwünschte Partikel in die Säule gelangen und Verschmutzungen verursachen, was eine bessere Bildklarheit ergibt. JEOL BX-WAC300B93 verfügt außerdem über ein grobes und feines Fokussystem zur einfacheren Manipulation des ultrafeinen Strahlstroms, das eine genauere Analyse der Proben ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über einen motorisierten Stigmator, der die Bildauflösung verbessert und den Kontrast verbessert. Um weitere Genauigkeit zu gewährleisten, verfügt BX-WAC300B93 über eine automatisierte Hintergrundbilderzeugungseinheit, die Merkmale im Hintergrund der Probe genau analysieren kann. JEOL BX-WAC300B93 ist mit einer einzigartigen Stufensteuerungsmaschine ausgestattet und kann verwendet werden, um verschiedene Proben mit einer Vielzahl von Techniken abzubilden, einschließlich Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Niederspannungselektronenmikroskopie und Bildvergrößerungsmodi. Darüber hinaus umfasst dieses Werkzeug verschiedene Probenhalter, wie einen TEM-Probenhalter, einen Stutzenhalter und einen RBS-Halter. Das Stufen-Steuerelement kann auch zum Bewegen von Abschnitten des Objekts verwendet und manuell oder automatisch bedient werden. Darüber hinaus verfügt dieses Modell über eine automatische Fokussierungsfunktion zur feineren Niveauanalyse der Probe. BX-WAC300B93 bietet eine breite Palette von Probenvorbereitungsoptionen für die Bildgebung, einschließlich mechanisches Polieren, Sputterbeschichtung, Kryo- und Kaltkühltechniken und verschiedene andere Reinigungstechniken. Mit dem Mikroskop können Metall-, anorganische, organische und Kristallproben mit minimaler Probenvorbereitung beobachtet werden. Neben den erweiterten Bildgebungsfunktionen verfügt JEOL BX-WAC300B93 auch über mehrere Softwarepakete zur Datenerfassung und -analyse. Diese Softwarepakete umfassen SEIMAGER Software zur Partikelanalyse, ADELM Software zur Differenzkontrastanalyse und CORCON Software zur automatisierten Signalverarbeitung. Diese Programme ermöglichen eine effiziente Bedienung und Analyse der Daten des Mikroskops. Darüber hinaus ist dieses Mikroskop mit einer digitalen Archivausstattung ausgestattet, die es dem Anwender ermöglicht, alle während einer Analysesitzung erfassten Bilder und Daten zu speichern. BX-WAC300B93 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges, vielseitiges Analysesystem, das sich ideal für die Untersuchung einer Vielzahl von Materialien und Objekten in einer Vielzahl von Umgebungen eignet. Seine fortschrittliche Elektronenoptik, kombiniert mit einer Vielzahl von automatisierten Funktionen und Softwarepaketen, sorgen für eine zuverlässige und genaue Abbildung von großen und kleinen Objekten. Dieses Modell bietet eine ausgezeichnete Plattform für die Analyse einer Reihe von Proben, von Metallen bis zu organischen Materialien.