Gebraucht JEOL BZG-70CTSCLPL #9282274 zu verkaufen

JEOL BZG-70CTSCLPL ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich ideal für materialwissenschaftliche und technische Anwendungen eignet. Dieses SEM verfügt über eine ultrahochauflösende Bildgebung in einem kompakten, benutzerfreundlichen Design mit geringem Wartungsaufwand. BZG-70CTSCLPL verfügt über eine hochhellige filamentlose Feldemissionskanone (FEG) in Kombination mit einer ultraschwingungsarmen Probenkammer zur überlegenen Bildgebung. Diese Konfiguration minimiert die Divergenz des Elektronenstrahls und erzeugt ultrahochauflösende Bilder. Die variable Druck LED-Probenkammer ermöglicht Variation des Elektronenstroms über einen weiten Bereich, so dass eine genaue Abbildung der Probenmerkmale. JEOL BZG-70CTSCLPL verfügt über ein großes Sichtfeld und eine hohe Gesamtleistung. Es hat einen großen Arbeitsabstand von 12,7 mm und eine Bildauflösung von 0,8 nm und eignet sich somit perfekt für die Abbildung winziger Merkmale sowohl in der Topographie als auch in der chemischen Zusammensetzung. Es hat ein geringes detektierendes Rauschverhältnis und einen minimalen Dynamikbereich von 1000:1, so dass Benutzer kleine Konzentrationen der Probe erkennen können. BZG-70CTSCLPL ist ideal für die Abbildung empfindlicher Proben wie Biomaterialien, Keramik, Polymere und Nanomaterialien. Es funktioniert auch gut für die 3D-Rekonstruktion und hat die Fähigkeit, Daten in übergeordnete Dateiformate zu übertragen. Hochauflösende Bildgebung ist mit dem hohen Kontrast und dem niedrigen Rauschpegel verfügbar. JEOL BZG-70CTSCLPL ist für den Betrieb in einer automatisierten Umgebung konzipiert. Die Probenstufe kann automatisiert werden, um schnell eine Kompensation für Probenbewegungen und wiederholbare Positionspunkte zu erreichen. Das System kann über Ethernet oder Bus-Schnittstelle zu externen Computern betrieben werden, während Scans ausgeführt werden, so dass verschiedene Operationen gleichzeitig abgeschlossen werden können. BZG-70CTSCLPL ist ein zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop mit benutzerfreundlichen Funktionen zur präzisen Materialanalyse. Die geringen Wartungsanforderungen, der große dynamische Bereich der Bildgebung und der niedrige Vakuum-Modus machen es zu einer perfekten Wahl für Anwendungen, die eine außergewöhnliche Bildgebungsfähigkeit erfordern.