Gebraucht JEOL BZG-72WCST8H #9282258 zu verkaufen

JEOL BZG-72WCST8H ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle. Dieses SEM bietet echte Niedervakuum-Bildgebung mit einem Arbeitsvakuum von 2,0 Pa und bietet ein realistisches Blickfeld mit ausgezeichneter Auflösung und hochwertiger Bildgebung. Die Pistole hat eine lange Lebensdauer und arbeitet mit einer erstaunlich hohen Auflösung von 1,4 nm. Der SEM wird mit einem kürzlich bestimmten, patentierten Ablenkungssystem gemacht, das einen reaktiven Hochleistungsgasbalken leerer und seine verbundenen mechanischen Elemente für die optimale Bildaufbereitung integriert. Diese Eigenschaft bietet ultraniedrig dunkles aktuelles Geräusch und Hochgeschwindigkeitselektronbalkenabtastung, um den feinsten von Details sowie dem Reduzieren des Risikos des Schadens an der Probe festzunehmen. Das SEM verfügt über ein integriertes Strahlverzögerungssystem für Hellfeldbilder und Strahlabtastverzerrungskorrektur für verbesserten Bildkontrast und Detailauflösung. Die eingebaute Korrektur zweiter Ordnung an der Spaltenöffnung ermöglicht eine hohe räumliche Auflösung und eine gleichmäßige Punktspreizfunktion (PSF) über den gesamten Abbildungsbereich. Mit seiner Hochleistungselektronbalkenabtastung erreicht BZG-72WCST8H reduzierte Kunsterzeugnisse und Geräusch in den Bildern. Der In-Column-Energiefilter und die Analysekapazität im SEM übertreffen die mit anderen Systemen erreichbaren Werte. Seine leistungsstarke WDS/EDS-Fähigkeit wird durch einen Hochstrom-Matrix-Detektor und eine ausgeklügelte Software ermöglicht, die die Identifizierung chemischer Elemente und die quantitative Analyse verschiedener Elemente in einem SEM-Bild ermöglicht. Die Software ermöglicht eine benutzerfreundliche Bedienung für einfache Bereitstellung und Bedienung. Es ist entworfen, um mit mehreren Zubehörteilen im Laufe der Zeit zu arbeiten, wie einem BSE-Detektor, HF-Spule, In-Linsen-Detektor, SE-Detektor und EBSD. JEOL BZG-72WCST8H ist ein ideales Gerät für eine Vielzahl von Laboranwendungen. Seine hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten ermöglichen eine Vielzahl von Forschung, wie Materialwissenschaft, Halbleiter-Wafer-Level-Inspektionen, Nanotechnologie-Anwendungen, Fehleranalyse und vieles mehr. Seine Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit machen es für fast jede Forschungsanforderung geeignet.