Gebraucht JEOL BZG-73WCST6H #9282405 zu verkaufen

JEOL BZG-73WCST6H
ID: 9282405
Wafergröße: 2"
Cassettes, 2".
JEOL BZG-73WCST6H ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop, das im Vergleich zu anderen SEMs auf dem Markt über überlegene Leistungsfähigkeit verfügt. Es enthält einen OneView Lense-Detektor und einen Hochleistungs-SR-Detektor, die beide für ihre erweiterte Bildaufnahme- und Analysefähigkeit bekannt sind. Als solches ist dieses Instrument ideal für Anwendungen wie Elektronenstrahllithographie, Nanolithographie und Mikrofabrikation. Die Feldemissionskanone (FEG) auf BZG-73WCST6H ist eine der fortschrittlichsten und leistungsstärksten auf dem Markt. Diese FEG bietet eine hohe Stromdichte, geringen Rauschboden und Abblendlicht Instabilität, um eine genaue Bildgebung mit minimalen Ablenkungen zu erleichtern. Darüber hinaus verfügt es über eine Strahlaustastfähigkeit, die es dem Benutzer ermöglicht, die relativen Verteilungen des Emissionsstroms genau zu messen und zu analysieren. Die Fähigkeit, solche Operationen schnell und präzise durchzuführen, macht dieses Instrument ideal für die fortschrittliche Materialanalyse. JEOL BZG-73WCST6H verfügt auch über eine Vielzahl von Probenvorbereitungsstufen, von konventioneller kolloidaler Goldbeschichtung, Dampfphasenkohlenstoffbeschichtung, bis zum Gefrierbruch, die alle zur Verbesserung der bildgebenden Genauigkeit verwendet werden. Darüber hinaus kann die Elektronenkanone mit einem Ladungsdetektor integriert werden, so dass der Benutzer die lokalen elektrischen Feldeigenschaften der Probe genau analysieren kann. BZG-73WCST6H bietet durch seine 60kV ReFocusing Gun Objektivausstattung eine hervorragende Auflösung. Dieses System ist mit einer Bildplattform gepaart, um das Signal-Rausch-Verhältnis und die Bildqualität zu optimieren. Es verfügt auch über eine integrierte EDS-Einheit mit einem hochempfindlichen Detektor, der eine genaue und präzise Analyse der elementaren Zusammensetzung ermöglicht. Ein Helligkeitsfelddetektor ist ebenfalls enthalten und bietet Kontrast und Tiefenschärfe. JEOL BZG-73WCST6H verfügt auch über eine Software-Suite, die die Effizienz und Genauigkeit der SEM-Bildgebung maximiert. Diese Maschine enthält ein umfassendes 3D-Bildgebungs-Softwarepaket zur schnellen und präzisen Konstruktion von dreidimensionalen Modellen mikroskopischer Strukturen. Es enthält auch fortgeschrittene Analyseprogramme zur Erleichterung von Topographie-Scans, Elementarzuordnungen und Partikelgrößenanalysen. Alle Merkmale auf BZG-73WCST6H Instrument machen es zu einer hervorragenden Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen. Seine fortschrittliche FEG-Quelle, eine breite Palette von Probenvorbereitungsstufen und leistungsstarke Analyseprogramme kombinieren sich, um es zu einer idealen Wahl für diejenigen zu machen, die überlegene bildgebende Fähigkeiten suchen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor