Gebraucht JEOL BZG-75MST4H #9282264 zu verkaufen

JEOL BZG-75MST4H ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für erweiterte Ionenstrahlanalyseanwendungen. Es verfügt über einen Spitzenstrom von 150 mA/cm2 und eine Energieauflösung von 0,07 eV. BZG-75MST4H verfügt über eine Ausrüstung, die ultradünne Proben von 2,5 Mikrometern verarbeiten kann. Seine umfangreichen Manipulatoren können Bühnenfähigkeiten für Proben in einer Vielzahl von Orientierungen bereitstellen. Zusätzlich können JEOL BZG-75MST4H Photomultiplier und thermoelektrisch gekühlte Detektoren detektieren. BZG-75MST4H eignet sich für eine Reihe wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen, von Standard-Elektronenmikroskopietests bis hin zu komplexen Analysen und Materialforschung. Es bietet verbesserte Auflösungsstufen und kann verwendet werden, um viele Merkmale von hochspezialisierten Materialien mit hoher Genauigkeit zu untersuchen. JEOL BZG-75MST4H wird von einem fortschrittlichen digitalen Bildverarbeitungssystem angetrieben, das es Anwendern ermöglicht, hochdetaillierte Bilder bei extremen Vergrößerungen zu erfassen. Digitale Bilddaten können gesammelt und analysiert werden, so dass Workflows und Experimente optimiert werden können. Dieses Mikroskop verfügt zudem über eine einzigartige, ultoreflektionsbeschichtete Quarzsichtkammer, die zur Minimierung von Signalverzerrungen oder Fehlern im bildgebenden Prozess ausgelegt ist. BZG-75MST4H ist in der Lage, eine Vielzahl von Oberflächenanalysetechniken durchzuführen, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung, rückgestreuter Elektronenbildgebung und Röntgenabbildung. Das SEM ist auch in der Lage, eine chemische Analyse von Proben wie EDX, EDL, EDS und TXM durchzuführen. Das Mikroskop verfügt auch über mehrere eingebaute Sicherheitsmerkmale, wie einen Hochspannungsabschalter, der Fehler oder Unfälle verhindern kann. Das Gerät verfügt auch über mehrere Komfortfunktionen, wie die Möglichkeit, benutzerdefinierte Scans und Bilderfassungssequenzen zuzuweisen. JEOL BZG-75MST4H ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für Forschungsanwendungen und industrielle Anwendungen. Es verwendet eine einzigartige optische Maschine, um eine verbesserte Auflösung und Bildqualität bereitzustellen. Dieses SEM bietet Funktionen und Funktionen für erweiterte Anwendungen wie Oberflächenanalyse, Bildgebung und Materialforschung. Seine umfangreichen Sicherheits- und Komfortmerkmale machen BZG-75MST4H zu einem leistungsfähigen und zuverlässigen SEM für jede Forschung oder industrielle Nutzung.