Gebraucht JEOL BZG-75MST4H #9282265 zu verkaufen

JEOL BZG-75MST4H ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich für eine Vielzahl von Anwendungen in der Industrie und Forschung eignet. Es ist ein einstellbares Elektronenmikroskop, das hauptsächlich für Mittelspannungsanwendungen geeignet ist, bei denen die Probe mit hoher Auflösung und Genauigkeit untersucht werden muss. Zu den Hauptkomponenten von BZG-75MST4H gehören eine Feldemissionskanone (FEG), ein Szintillator, ein Elektronenpolstück, Bühnensteuerungen und ein Satz Hochspannungsnetzteil. Mit dem FEG wird ein Elektronenstrahl aus der zu untersuchenden Probe erzeugt. Der Szintillator ermöglicht die Detektion reflektierter Elektronen, so dass das erzeugte Bild visuell beobachtet werden kann. Das Elektronenpolstück dient zur Ablenkung und Fokussierung des Elektronenstrahls auf die Probe sowie zur Bereitstellung eines feldfreien Bereichs für die Sammlung rückgestreuter Elektronen. Die Stufensteuerung erlaubt die Ausrichtung der Probe und die Rotation der Probe. JEOL BZG-75MST4H wird von einer integrierten motorisierten Transferausrüstung für den automatisierten Probenaustausch und Produktivitätssteigerung begleitet. Das System umfasst den JEOL Controller IV oder den TE Gauge, der über eine eigene Menüeinheit betrieben wird. Die Maschine bietet auch verschiedene Abbildungsmodi für den Benutzer abhängig von der Art der untersuchten Probe wie die Rückstreuelektron (BSE) -Modus, Sekundärelektron (SE) -Modus, EFTEM-Modus, etc. BZG-75MST4H ist ein hochauflösendes SEM, das qualitativ hochwertige Bilder erzeugt. Die aufgenommenen Bilder verfügen über mehrere nützliche Funktionen wie Bildkomposition, Bildaufnahme und Bildspeicherung. Das Software-Paket, das das SEM-Tool begleitet, bietet zusätzliche Funktionalitäten wie die Fähigkeit, Daten zu analysieren, Bildverarbeitung, 3D-Rekonstruktionen und mehr. Darüber hinaus verfügt das SEM über verschiedene Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, Fokus- und Blendensteuerung, benutzerfreundliche Bedienung, Spektrumsmessungen, Spektroskopie und automatisierte Bildgebung und Verarbeitung. JEOL BZG-75MST4H ist ein effektives Rasterelektronenmikroskop, das für eine Reihe von Anwendungen verwendet werden kann, einschließlich Oberflächenuntersuchungen, elementare Zusammensetzungsbewertungen, Untersuchungen von Versagen, Mikroanalyse und mehr. Es eignet sich auch für eine Reihe von industriellen und wissenschaftlichen Untersuchungen, so dass es ein unschätzbares Werkzeug in der Welt der industriellen und wissenschaftlichen Exploration.