Gebraucht JEOL FIB JFIB-2300 #9208934 zu verkaufen

JEOL FIB JFIB-2300
ID: 9208934
Wafergröße: 6"
Scanning electron microscope, 6".
JEOL FIB JFIB-2300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem eingebauten fokussierten Ionenstrahl (FIB). Es ist ein fortschrittliches analytisches Werkzeug für bildgebende und nanofabrication Anwendungen verwendet. FIB JFIB-2300 kombiniert SEM-Bildgebung und FIB-Verarbeitung in einem einzigen System für höhere Auflösung und Genauigkeit. Die FIB-Technologie wird mit ihrer X-Y-Stufe und hochpräzisen Linearmotoren für die nanoskalige Positionierung ermöglicht. Dies bietet eine hohe Kontrolle, um die Probe mit der höchsten Auflösung zu scannen. Es kann die Probe leicht bewegen und drehen, um die gewünschten Bilder zu erhalten. Der hochenergetische Sekundärelektronendetektor ermöglicht die Aufnahme von Bildern mit hoher Detailtreue und Klarheit. JEOL FIB JFIB-2300 bietet eine breite Palette von Strahlströmen und Verweilzeiten für erhöhte Bildgebungsleistung. Es enthält drei Detektoren für verschiedene analytische Operationen: einen Sekundärelektronendetektor, einen Rückstreuelektronendetektor und einen In-Linsen-Detektor. Diese Detektoren liefern eine breite Palette von analytischen Daten wie Phase und elementare Zusammensetzung. Die SEM-Säule von FIB JFIB-2300 erzeugt eine Kombination aus Hochspannung, Hochstrom und hoher Vakuumleistung. Dies ermöglicht die Abbildung kleiner Merkmale mit hoher Auflösung und Kontrast sowie die Materialbearbeitung. Darüber hinaus sorgt die integrierte Vakuumkammer dafür, dass bei der Verarbeitung keine Verunreinigungen auftreten, um eine Beschädigung von Proben zu verhindern. JEOL FIB JFIB-2300 ist ein intuitives und einfach zu bedienendes System, das schnelle und genaue Leistung bietet. Es ist auch mit einem automatisierten Ladesystem ausgestattet, um eine Probe einfach und schnell zu laden. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse und Datenerfassung der Probe ohne manuelle Bedienung. Schließlich enthält es einen integrierten PC mit leistungsfähiger Bildgebungs- und Analysesoftware, um Anwendern zu helfen, Beispieleigenschaften schnell zu identifizieren.
Es liegen noch keine Bewertungen vor