Gebraucht JEOL FV 6300 #9259836 zu verkaufen

JEOL FV 6300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Spitzenleistung für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen bietet. Das Instrument bietet eine beispiellose Auflösung und Kontrast auf nanoskaliger Ebene. Es verfügt über eine Fünf-Achsen-Steuerstufe, die eine maßgeschneiderte Bildgebung entsprechend der benutzerspezifischen Umgebung ermöglicht. Darüber hinaus ermöglicht die hochauflösende Linse detaillierte Analysen kleiner Merkmale und ist in der Lage, in einer Ultrahochvakuumumgebung zu arbeiten, um die Elektronenstreuung zu minimieren. FV 6300 bietet auch eine Reihe von umgebungsabhängigen Betriebsmodi, einschließlich variablem Druck, niedrigem Vakuum, Hochvakuum und Kryo-SEM. Mit innovativer Prismenoptik können Anwender auch in anspruchsvollen Umgebungen hochwertige Bilder aufnehmen. Die hochpräzise Vari-Zoomoptik ermöglicht schnellere Pixelgrößenanpassungen und bildgebende Details bei höherer Vergrößerung. Darüber hinaus ist das Instrument mit einem hochverzerrenden Korrekturgerät integriert, das eine verbesserte Bildgebungsgenauigkeit und Konsistenz ermöglicht. Das System bietet einen nahtlosen Betrieb mit mehreren Mikroskopen für Großprojekte. Es verfügt auch über eine geschlossene Schleifeneinheit, die die Schärfentiefe dehnt, um Objekte genauer zu messen. JEOL FV 6300 ist auch mit einer digitalen Bildgebungs- und Analysemaschine ausgestattet, mit der Benutzer Bilder schnell und einfach bearbeiten und Proben messen können. Es kommt auch mit einer breiten Palette von Funktionen wie 3D-Modellerstellung, Roboterbildaufnahme, reibungslose Bilderfassung und programmierbare Steuerung. Darüber hinaus unterstützt das Instrument auch den automatisierten Betrieb und bietet eine hervorragende Datensicherheit. Abschließend ist FV 6300 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um Arbeitssicherheitsvorschriften zu erfüllen und gleichzeitig überlegene bildgebende Fähigkeiten und Leistung auf nanoskaliger Ebene zu bieten. Es ist ein ideales Instrument für diejenigen, die ein Top-of-the-Line-Imaging-Tool suchen, um ihre Forschungs- und Entwicklungsanstrengungen zu erleichtern.