Gebraucht JEOL JBX-5500FS #293817367 zu verkaufen

JEOL JBX-5500FS
ID: 293817367
Wafergröße: 4"
Weinlese: 2013
E-Beam lithography system, 4" 2013 vintage.
JEOL JBX-5500FS ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Hochgeschwindigkeits- und Hochdurchsatzbildgebung entwickelt wurde. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder in einer Vielzahl von Abbildungsmodi zu erfassen, einschließlich sekundärer und rückgestreuter Elektronenbildgebung, Kathodolumineszenz und Photomultiplier-Röhrenbildgebung (PMT). JBX-5500FS ist mit einer schnellen elektronenoptischen Spalte ausgestattet, so dass Bilder in weniger als 10 Sekunden aufgenommen werden können. JEOL JBX-5500FS verwendet eine thermionische SEM-Säule mit einer Feldemissionskanone, die einen 5-kV-Niedrigvakuum-Modus für die kontrastreiche Abbildung nichtleitender Proben bietet. Dies ermöglicht die Detektion von nanoskaligen Merkmalen mit verbesserter Bildqualität auch bei hohen Vergrößerungen von bis zu 300.000x. JBX-5500FS verfügt über eine hochpräzise XY-motorisierte Stufe, die sich mit einer Höchstgeschwindigkeit von 500 μ m/s bewegen kann und eine hervorragende Bildgebungsleistung bietet. Das Mikroskop verfügt auch über eine automatisierte, voll programmierbare Close Zone Imaging Mini-Bühne, bietet Spot-on Wiederholbarkeit und Submikrongenauigkeit. JEOL JBX-5500FS hat ein ergonomisches Design und ist mit einem 21-Zoll-TFT-Monitor für einfache Bedienung und Anzeige von Bildern ausgestattet. Es verfügt auch über ein integriertes Softwarepaket zur Bilderkennung und -analyse mit einer Vielzahl von Werkzeugen, einschließlich einer Partikelanalyse-Suite zur Messung von Formen, Größen und Verteilung sowie Werkzeugen zur Messung von Merkmalen mit optischen Bildern. JBX-5500FS verfügt über überlegene Energiefilterfähigkeiten, so dass der Benutzer Elektronen mit niedriger und hoher Energie für eine optimale Bildgebung herausfiltern kann. Filter und Detektor können für verbesserten Kontrast und Auflösung eingestellt werden. Zusammenfassend ist JEOL JBX-5500FS ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit überlegenen bildgebenden und bildgebenden Verarbeitungsfähigkeiten. Es ist für Hochdurchsatz-Bildgebung konzipiert und bietet schnelle und genaue Bildgebungsleistung mit überlegener Bildqualität und Kontrast.
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