Gebraucht JEOL JBX-6000FS #9273681 zu verkaufen

JEOL JBX-6000FS Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein industrielles, benchtop Instrument, das Hochleistungs-Bildgebung mit überlegener Funktionalität und Erschwinglichkeit bietet. Es verfügt über eine große, komfortable Probenkammer mit hervorragenden Temperaturregulierungsfähigkeiten, ein ergonomisches Design mit einem großen Fenster an der offenen Front für einfachen Zugang und eine große Auswahl an bildgebender und analytischer Software zur Verfügung. JEOL JBX-6000 FS ist mit einer Feldemissions-SEM-Quelle ausgestattet, die eine hochauflösende und kontrastreiche Bildgebungsoption sowie ein umfassendes Angebot an Hard- und Software für Bildgebung und Analyse bietet. Das einfach zu bedienende Design und die intuitive Bedienung machen es einfach zu bedienen. Es kann verwendet werden, um komplexe biologische und organische Materialien, metallische Fragmente, Nanomaterialien, Gewebe, medizinische Geräte und vieles mehr abzubilden. JBX-6000FS verfügt über hochauflösende Bildgebungsfunktionen mit einer maximalen Auflösung in der Größenordnung von einem Nanometer. Eine Reihe automatisierter Funktionen vereinfachen und beschleunigen die Bildverarbeitung mit JBX-6000 FS, einschließlich der automatischen Scanoptimierung, der computergesteuerten Bühne und der automatisierten Bildanalyse. Es hat auch eine Reihe von Detektoroptionen, um den Bildgebungsprozess anzupassen. JEOL JBX-6000FS verfügt über eine Vielzahl von Abbildungsmodi, darunter Standard-SEM-Modi, Hochvakuum-Ansichtsmodus, Backscatter-Mapping-Modus und variable Druckabbildung bei Ultrahochvakuum (UHV). Es hat auch eine Reihe von analytischen Techniken zur Verfügung, wie Elementaranalyse durch Energiedispersive Spektroskopie (EDS) und sekundäre Elektronenbildgebung (SEI). Weitere Merkmale von JEOL JBX-6000 FS sind das Touchscreen-Display für einfache Navigation und Bildoptimierung, ein integriertes Energiefiltersystem, eine motorisierte Probenstufe für automatisierte Navigation und eine programmierbare Abtastrate. Das Mikroskop ist zudem mit einem integrierten Bruker AXS EBSD-System zur Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) ausgestattet. JBX-6000FS bietet ein robustes, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, komfortable Ergonomie, fortschrittliche bildgebende Funktionen und schnelle, zuverlässige Analysefunktionen. Das Angebot an Hard- und Software macht es zu einer idealen Wahl für industrielle, biologische, Nanomaterialien und medizinische bildgebende Anwendungen.