Gebraucht JEOL JBX-6300 #9393311 zu verkaufen

JEOL JBX-6300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hauptsächlich zur Bildgebung und Mikroanalyse von Proben verwendet wird. Es verfügt über eine fortschrittliche Bildgebungstechnologie, mit der Forscher Proben bis in den Nanometermaßstab betrachten und analysieren können. Das Mikroskop ist mit einer Reihe von Funktionen ausgestattet, die hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen bieten. JEOL JBX 6300 ist mit einer Thermo-FET Ultrahochvakuum-Feldemissionskanone ausgestattet, die in der Lage ist, eine hochauflösende Feldemissionsquelle von Elektronen zu erzeugen. Diese Feldemissionskanone ermöglicht es Forschern, hochauflösende Bilder von Nanoskala-Zielen zu erreichen. Darüber hinaus verfügt JBX-6300 über ein Multimodus-Signalverarbeitungssystem, mit dem Forscher zwischen verschiedenen Bild- und Verarbeitungsmodi wechseln können. Dieses System ermöglicht es dem Benutzer, den optimalen Signalverarbeitungsmodus für seine Probe auszuwählen, was eine höhere Analysegenauigkeit ermöglicht. JBX 6300 ist mit mehreren erweiterten Bildgebungs- und Analysefunktionen ausgestattet, die 3D, Backscatter und sekundäre Elektronenbildgebung umfassen. 3D-Bilder bieten eine genauere Darstellung der Topographie der Probe als 2D-Bildgebung. Backscatter-Bildgebung ermöglicht die Detektion subtiler Merkmale, die für optische Mikroskope nicht sichtbar sind. Die sekundäre Elektronenbildgebung dient zum Nachweis von Zusammensetzungsunterschieden zwischen Probe und Hintergrund. Diese bildgebenden Fähigkeiten ermöglichen es Forschern, einen größeren Einblick in die Struktur und Zusammensetzung von Proben im Nanometermaßstab zu erhalten. JEOL JBX-6300 ist auch mit einer Vielzahl von Mustermanipulationsmerkmalen ausgestattet. Die motorisierte Stufe ermöglicht es dem Benutzer, die Probe unter dem Elektronenstrahl zu bewegen, während die Bühne gekippt und gedreht wird, was eine einfache Navigation der Probe ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer Gaszelle ausgestattet, um reaktive Gase zur Analyse einzuspritzen. Die Gaszelle ermöglicht es Forschern, die Proben unter unterschiedlichen Druck- und/oder Temperaturbedingungen zu analysieren. Darüber hinaus verfügt JEOL JBX 6300 über eine integrierte Röntgenmikrosonde, die es Forschern ermöglicht, die elementare Zusammensetzung der Proben zerstörungsfrei zu analysieren. Die Röntgenmikrosonde ist in der Lage, leichte, schwere und edle Elemente bis in den Nanometermaßstab zu detektieren. JBX-6300 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Imaging und Mikroanalyse im Nanometermaßstab ermöglicht. Es umfasst eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen wie eine Feldemissionskanone, ein Multimode-Signalverarbeitungssystem, eine motorisierte Bühne, eine Gaszelle und eine Röntgenmikrosonde.