Gebraucht JEOL JBX-9300FS #9246062 zu verkaufen

JEOL JBX-9300FS ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende Bilder mit einer Vielzahl von Funktionen entwickelt wurde. Mit verbesserter Leistung und robuster Konstruktion ist JBX-9300FS in der Lage, Rasterelektronenmikroskopbilder mit einer Auflösung von bis zu 0,7 nm aufzunehmen. Seine Elektronenoptik bietet verzerrungsfreie Bildgebung auch bei sehr hohen Vergrößerungen. Es verfügt auch über eine Spektren-Analyse-Modus, so dass es die elementare Zusammensetzung einer Probe bis zu einer einzigen atomaren Schicht zu analysieren. JEOL JBX-9300FS bietet eine große räumliche Auflösung mit einem Sichtfeld bis 10 μ m und einer Auflösung von 0,7 nm. Es enthält ein professionelles Anti-Vibrations-System, um eine glatte und stabile Fokussierung bei maximalen Vergrößerungen zu gewährleisten. Das Mikroskop ist auch mit einer Reihe von Detektoroptionen ausgestattet, einschließlich eines Faraday Detektors zur Messung von energiedispersiven Röntgenstrahlen (EDS) und eines rückgestreuten Elektronendetektors (BSE) für die atomare Skalenbildgebung. JBX-9300FS ist in der Lage, Niedervakuum-Modus-Operationen (LVME) bis zu 0,5 Pa, so dass es ideal für Studien, die hohe Strahlströme und hochauflösende Abbildung von Materialien mit einem niedrigen Sekundärelektronensignal erfordern. Die Lithium-Molybdat-Kammer ermöglicht JEOL JBX-9300FS, SE/BSE-Bilder bis zu einem maximalen Druck von 100 Pa.Darüber hinaus enthält es eine emissionsarme Elektronenkanone, so dass es Sub-Nanometer-Funktionen mit minimalem sekundärem Elektronenhintergrundrauschen abbilden. Darüber hinaus verfügt JBX-9300FS über einzigartige Detektoroptionen, einschließlich eines Spot Square Detektors und eines Energy Focusing Detektors. Der Spot Square Detector erfasst Bilder und erzeugt Pixelkarten der Probe, während der Energy Focusing Detector zum Messen von AELS-Spektrumlinienformen verwendet wird. Es beinhaltet auch ein fortschrittliches System für den automatisierten Betrieb, das es ermöglicht, in automatisierten Musterwechslerzyklen zu arbeiten, wodurch die Gesamtproduktivität verbessert wird. Insgesamt ist JEOL JBX-9300FS ein hochentwickeltes und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Funktionen, die für hochauflösende Bildgebung mit fortschrittlicher Leistung und robuster Konstruktion entwickelt wurden. Dieses vielseitige Instrument eignet sich perfekt für eine Reihe von Anwendungen, darunter Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Halbleiterforschung.