Gebraucht JEOL JCM-5700 #293671429 zu verkaufen

JEOL JCM-5700
ID: 293671429
Weinlese: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) 2007 vintage.
JEOL JCM-5700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Die hochauflösenden bildgebenden Funktionen reichen von 1 nm bis 100 μ m und bieten die ideale Ausrüstung für die Analyse von Nano- und Makroskalen. Mit seiner Scanfleckgröße von 1,2 nm bietet JCM-5700 eine hervorragende Bildgebungsleistung und ist in der Lage, dreidimensionale Bildauflösungen auf nanoskaliger Ebene zu erzeugen. Das SEM verfügt über eine dedizierte Elektronenquelle, die hochenergetische Elektronen für eine Vielzahl von Anwendungen liefert, einschließlich elementarer Kartierung, Zusammensetzungsanalyse und mikroskalierter Fehlerinspektion. Das Mikroskop verfügt auch über eine integrierte CCD-Kamera zur Aufnahme lebendiger digitaler Bilder in voller Auflösung, was es für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen nützlich macht. JEOL JCM-5700 verfügt über ein integriertes Auto-Tuning-Objektiv für den automatisierten Hochvakuumbetrieb und bietet gleichzeitig eine manuelle Abstimmung für schnellere Bildgebungsleistung. Das Mikroskop kann auch mit einem optionalen Everhart-Thornley Sekundärelektronendetektor für verbesserte Bildgebungsleistung ausgestattet werden. Dieser Detektor erhöht die Auflösung um 20 Prozent bei gleichzeitiger Reduzierung der Probenaufladung um bis zu 90 Prozent aufgrund der eingebauten Signalverarbeitung. JCM-5700 verfügt auch über das JEOL Digital Image Processing (DIP) System zur Visualisierung von Daten auf vielfältige Weise. Mit dieser Einheit können detaillierte Bilder schnell und einfach überlagert, verglichen und analysiert werden. Es verbessert auch die Bildqualität, indem es Rauschreduzierung in Bildern mit geringem Fluss ermöglicht. JEOL JCM-5700 ist mit einer Reihe von Automatisierungsfunktionen ausgestattet, um den Betrieb effizienter zu gestalten. Dazu gehören die automatische Fokussierung zum Bewegen einer Probenoberfläche zwischen Punkten, eine automatische Umhüllung zum Sicherstellen einer korrekten Färbung und eine automatische Ausrichtung zum genauen Positionieren der Probe. Insgesamt machen die leistungsstarken und automatisierten Funktionen von JCM-5700 die Bildaufnahme und Probenanalyse effizient und zuverlässig. Es ist ideal für eine breite Palette von Forschungsanwendungen, von Nanoskala bis Makroskala. Mit flexibler Hardware und leistungsstarken Bildverarbeitungsfunktionen ist JEOL JCM-5700 die perfekte Maschine für Forschung und industriellen Einsatz.
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