Gebraucht JEOL JEM 100C #9408448 zu verkaufen

JEOL JEM 100C ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Anforderungen der nanoskaligen Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Der 100C ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung und Spektroskopie an einer Vielzahl von Proben durchzuführen. Dieses vielseitige Instrument kann verwendet werden, um Einblick in die Mikrostruktur und chemische Zusammensetzung einer Vielzahl von Materialien zu erhalten, von organischen Polymeren und Fasern bis hin zu Halbleitern und Metallen. Im Zentrum von JEM 100C steht eine mehrpolige Schottky Feldemissionskanone (FEG), die für überlegene Helligkeit und Auflösung sorgt. Es verwendet einen Monochromator, um eine einzige Wellenlänge von Elektronen auszuwählen und das Signal-Rausch-Verhältnis zu erhöhen. Dies hat in Verbindung mit seiner niedrigen Linsenaberration zu einer extrem hochauflösenden Abbildung von bis zu 0,07 nm geführt. Zusätzlich sorgt ein Ultrahochvakuum (UHV) Innenraum dafür, dass Probensignale nicht durch Umweltgase gestört werden. Das Instrument verfügt über eine Reihe von Automatisierungsmerkmalen, wie automatisierte Probenbeladung, Bühnenantrieb und Musterausrichtung. Es enthält auch eine integrierte Verarbeitungssoftware für Forschungsarbeiten, die es einfach macht, Daten nahtlos zu verwalten. Der 100C verfügt zudem über ein automatisiertes Vakuumpumpsystem, das eine schnelle Evakuierung des Systems ermöglicht. JEOL JEM 100C ist in der Lage, in einem breiten Bereich von Modi zu arbeiten, einschließlich Sekundärelektronen bildgebend, rückgestreute Elektronen bildgebend und Elektronenstrahl induzierte Abscheidung. Es hat die Fähigkeit, die elementare Zusammensetzung der Probe mittels energiedispersiver und wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (EDX bzw. WDX) zu detektieren und zu analysieren. JEM 100C ist eine ausgezeichnete Wahl für Anwendungen, die Bilder mit höchster Auflösung und die Fähigkeit zur Analyse der chemischen Zusammensetzung einer Vielzahl von Materialien erfordern. Seine Objektive mit niedriger Aberration, sein hocheffizientes FEG- und UHV-System bieten überlegene Bildgebungs- und Analysefunktionen. Zusammen machen diese Funktionen JEOL JEM 100C zu einem idealen Werkzeug für alle, die klare, hochauflösende Bilder und präzise Elementaranalysen suchen.